Practical aspects of producing MIS structures with good prospects using atomic layer deposition technology


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The physical and chemical foundations of the atomic layer deposition (ALD) process, the advantages of ALD technology, and possible applications for further miniaturizing and improving the performance of semiconductor devices are considered. The results of the atomic layer deposition of the advanced nanoelectronic material hafnium oxide are discussed. The dielectric characteristics’ measurements and microstructure analysis results are given.

Об авторах

A. Aliabev

Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University

Автор, ответственный за переписку.
Email: alyabjev_au@mail.ru
Россия, St. Petersburg

A. Korotkov

Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University

Email: alyabjev_au@mail.ru
Россия, St. Petersburg


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах