Practical aspects of producing MIS structures with good prospects using atomic layer deposition technology


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The physical and chemical foundations of the atomic layer deposition (ALD) process, the advantages of ALD technology, and possible applications for further miniaturizing and improving the performance of semiconductor devices are considered. The results of the atomic layer deposition of the advanced nanoelectronic material hafnium oxide are discussed. The dielectric characteristics’ measurements and microstructure analysis results are given.

Авторлар туралы

A. Aliabev

Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: alyabjev_au@mail.ru
Ресей, St. Petersburg

A. Korotkov

Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University

Email: alyabjev_au@mail.ru
Ресей, St. Petersburg

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016