Atomic Force Microscopy for Studies of Molecular Layering Products


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The products obtained via molecular layering on materials with a different chemical nature and structure are studied with atomic force microscopy. The atomic force microscopy of synthesis products is analyzed to control the structure and properties of coatings formed during molecular layering on matrices of various geometric shapes.

Авторлар туралы

E. Sosnov

Saint-Petersburg State Institute of Technology

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: sosnov@lti-gti.ru
Ресей, St. Petersburg, 190013

A. Kochetkova

Saint-Petersburg State Institute of Technology

Email: sosnov@lti-gti.ru
Ресей, St. Petersburg, 190013

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018