Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Electron Microscopic Study of the Influence of Annealing on Ge–Sb–Te Thin Films Obtained by Vacuum Thermal Evaporation
Sybina Y., Borgardt N., Lazarenko P., Parsegova V., Prikhodko A., Sherchenkov A.
Study of multilayer carbon nanotubes subjected to the impact of a nanosecond high-energy ion beam
Bolotov V., Knyazev E., Sten’kin Y., Ivlev K.
Investigation of the surface of antifriction Al–Cu–Si–Sn–Pb aluminum alloys
Stolyarova O., Muravyeva T., Zagorskiy D., Gubenko M.
Investigation of the local characteristics of amorphous electrical steel
Virus A., Kaminskaya T., Stepovich M., Korovushkin V., Shipko M., Tikhonov A., Popov V.
Influence of the Substrate Type on the Surface Morphology of Cu2ZnSnSe4 Thin Films
Baraishuk S., Tkachenko T., Stanchik A., Gremenok V., Bashkirov S., Wiertel M., Budzynski M., Turovets A., Yakovenko Y.
Estimation of the SEM beam diameter by video-signal curves from a trapezoidal structure: 1. Simulation experiment
Larionov Y.
Atоmiс Force Microscopy of Graphene-Like Films Deposited onto Preirradiated SiO2/Si
Sedlovets D., Knyazev M., Trofimov O.
Modification of Zinc-Implanted Silicon by Swift Xenon Ion Irradiation
Privezentsev V., Skuratov V., Kulikauskas V., Makunin A., Ksenich S., Steinman E., Tereshchenko A., Goryachev A.
Scanning Probe Microscopy of Magnetorheological Elastomers
Valiev K., Minaev A., Stepanov G., Karnet Y., Yumashev O.
Influence of annealing temperature and its atmosphere on the properties of zinc implanted silicon
Privezentsev V., Kulikauskas V., Zatekin V., Shcherbachev K., Tabachkova N., Eidelman K., Ksenich S., Batrakov A.
Electron and probe microscopy investigation of the surface of elastomers modified with antifriction fillers
Stolyarova O., Muravyeva T., Gainutdinov R., Morozov A., Zagorskiy D., Petrova N., Portnyagina V.
Modification of the Nanoglobular Structure of Glassy Carbon by Heat Treatment and Ion Irradiation
Andrianova N., Borisov A., Kazakov V., Makunin A., Mashkova E., Ovchinnikov M.
Studying the formation of a true-secondary-electron signal in the low-voltage SEM mode
Kazmiruk V., Kurganov I., Osipov N., Podkopaev A., Savitskaya T.
Investigation of secondary-emission signal formation in the low-voltage SEM mode
Kazmiruk V., Kurganov I., Osipov N., Podkopaev A., Savitskaya T.
Effect of the Surface of Medical Titanium Endoprostheses on the Efficiency of Fibrointegration
Shaikhaliyev A., Polisan A., Ivanov S., Parkhomenko Y., Malinkovich M., Yarygin K., Arazashvili L.
Study of the Microstructure, Crystallographic Structure and Thermal Stability of Al–Ti–Nb Alloys Produced by Selective Electron Beam Alloying
Valkov S., Neov D., Bezdushnyi R., Beskrovnyi A., Kozlenko D., Petrov P.
Investigation of the closed porosity of functional ceramic materials by spin-echo small-angle neutron scattering
Pavlov K., Velichko E., Zabenkin V., Kraan W., Duif C., Bouwman W., Mikhailovskaya Z., Buyanova E., Grigoriev S.
Effect of the substrate material on the structure of carbon nanomaterials upon synthesis in a plasma jet reactor
Shavelkina M., Amirov R., Vorobyeva N., Katarzhis V.
High-resolution X-ray diffractometry and transmission electron microscopy as applied to the structural study of InAlAs/InGaAs/InAlAs multilayer transistor nanoheterostructures
Galiev G., Klimov E., Imamov R., Ganin G., Pushkarev S., Maltsev P., Zhigalina O., Orekhov A., Vasil’ev A., Presniakov M., Trunkin I.
Synthesis of Rhenium-Silicide Microcrystals in a Tin Melt
Solomkin F., Orekhov A., Sharenkova N., Khavrov G., Isachenko G., Zaitseva N., Klechkovskaya V.
Fabrication of nitrogen-containing coatings in reed switches by pulsed ion-plasma treatment
Zeltser I., Gurov V., Rybin N., Tolstogouzov A., Fu D., Kumar P.
Investigation of the heat resistance of zirconia coatings generated by microarc oxidation
Savushkina S., Polyansky M., Borisov A., Vinogradov A., Lyudin V., Dankova T., Agureev L.
Microstructural Effects in Electron-Microscopic Studies of Carbonate Rocks
Kuzmin V.
Study of the composition and properties of protective layers formed by the ion-beam-assisted deposition of cadmium, zinc, and aluminum onto steel surfaces
Poplavsky V., Dorozhko A., Matys V.
Determination of the Thickness of Thin Films Based on Scanning Electron Microscopy and Energy Dispersive X-Ray Analysis
Sokolov S., Milovanov R., Sidorov L.
1 - 25 из 33 результатов 1 2 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».