Поиск

Выпуск
Название
Авторы
X-ray Absorption Spectroscopy Analysis of Heavy Metals by Means of a Silicon Detector
Osadchii S., Petukhov A., Dunin V.
Differential-Thermal and X-Ray Analysis of TlFeS2 and TlFeSe2 Chalcogenides
Asgerov E., Ismailov D., Mehdiyeva R., Jabarov S., Mirzayev M., Kerimova E., Dang N.
Crystallography Based on Synchrotron Radiation: Experiments of Russian Users of the ESRF BM01 Diffraction Beam Line
Dmitriev V., Chernyshov D., Dyadkin V., Makarova I., Leontyev I., Andronikova D., Bronwald I., Burkovsky R., Vakhrushev S., Filimonov A., Grigoriev S.
On the Possibilities of Multilayer Mirrors for Measuring the Concentration of Boron Impurities in Diamond
Garakhin S., Polkovnikov V., Chkhalo N.
On the Surface Structure of Microchannel Plates and the Excitation of X-Ray Fluorescence in Hollow Microcapillaries
Mazuritskiy M., Lerer A., Kulov S., Samkanashvili D.
Determination of the Thickness of Thin Films Based on Scanning Electron Microscopy and Energy Dispersive X-Ray Analysis
Sokolov S., Milovanov R., Sidorov L.
Analysis of TiAlSiN coatings deposited by reactive magnetron sputtering under high-current ion assistance
Gavrilov N., Kamenetskikh A., Chukin A.
Discrete Fourier analysis of images of structural defects in single crystals
Zhukovskaya I., Bushuev V., Tkal V.
Influence of annealing temperature and its atmosphere on the properties of zinc implanted silicon
Privezentsev V., Kulikauskas V., Zatekin V., Shcherbachev K., Tabachkova N., Eidelman K., Ksenich S., Batrakov A.
Structural conditionality of the physical properties of the new representatives of the family of superprotonic crystals
Selezneva E., Makarova I., Grebenev V., Komornikov V.
Mapping a text on ancient parchment by X-ray fluorescence analysis using a synchrotron source
Guryeva P., Demkiv A., Sozontov E.
Diagnostics of the Elemental Composition of PZT Films on Platinum by X-Ray Microprobe Analysis
Beshenkov V., Znamenskii A., Marchenko V., Nekrasov A.
Crystal Structure of the Intermetallic Thin-Film Cu–Sn Condensate
Makrushina A., Plotnikov V., Demyanov B., Makarov S.
Changes in the structure and composition of the surface of a cathode upon long-term interaction with helium‒neon plasma
Borisovskiy P., Kiselev G., Kiseleva L., Moos E., Naumkin A.
Investigation of an ion-implanted semiconductor layer by X-ray fluorescence analysis and ellipsometry
Kalmykov S.
Investigation of the closed porosity of functional ceramic materials by spin-echo small-angle neutron scattering
Pavlov K., Velichko E., Zabenkin V., Kraan W., Duif C., Bouwman W., Mikhailovskaya Z., Buyanova E., Grigoriev S.
Formation of Intermetallic Compounds during the Ion-Plasma Sputtering of Metal Films on Diamond
Berov Z., Sozaev V., Manukyants A., Kasumov Y.
On the application of X-ray diffraction in studying heat-transfer surfaces of steam generators
Lyubimova L., Makeev A., Zavorin A., Tashlykov A.
Electron and probe microscopy investigation of the surface of elastomers modified with antifriction fillers
Stolyarova O., Muravyeva T., Gainutdinov R., Morozov A., Zagorskiy D., Petrova N., Portnyagina V.
On the Fabrication of a High-Quality Optical Surface of an Amorphous Nickel Coating on a Beryllium Substrate
Kazakov D., Milkov A., Stroulea I., Filichkina V., Kozlov A.
On the Search and Localization of Platinum-Group Microelements in Samples of the Chromite Horizon in the Bushveld Complex
Darin F., Sorokoletov D., Rakshun Y., Darin A., Veksler I.
Anharmonic Interatomic Potential Parameters Determined via EXAFS Cumulant Analysis for Pt–Fe Nanoparticles in a Polymer Matrix
Podsukhina S., Kozinkin A., Vlasenko V.
Analysis of the surface morphology, structure and properties of polyamidoimide nanocomposites with tubular hydrosilicates
Gubanova G., Sukhanova T., Vylegzhanina M., Lavrentiev V., Romashkova K., Kutin A., Maslennikova T., Kononova S.
Use of models of secondary X-ray fluorescence spectra to determine the measurement conditions in X-ray spectral methods of material analysis
Romanov A., Stepovich M., Filippov M.
Investigation of the heat resistance of zirconia coatings generated by microarc oxidation
Savushkina S., Polyansky M., Borisov A., Vinogradov A., Lyudin V., Dankova T., Agureev L.
1 - 25 из 28 результатов 1 2 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».