Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Structural Features of Pseudomorphic Spinel-Structure Films on R-Sapphire Substrates
Butashin A., Muslimov A., Asvarov A., Ismailov A., Babaev V., Kanevsky V.
Interaction between “Dry” Adhesives and the Surface of Materials Used for Spacecraft Engineering
Zhukov A., Smirnov I., Goryacheva I., Savvateev M., Zagorskiy D., Muravyeva T., Shcherbakova O., Bolotnik N.
Observation of Quantum-Size Effects in a Study of Resistive Switching in Dielectric Films with Au Nanoparticles via Tunneling Atomic Force Microscopy
Filatov D., Kazantseva I., Antonov D., Antonov I., Shenina M., Gorshkov O.
On the Role of the Proton Component in the Evolution of the Morphology of K-208 Glass under Combined Electron–Proton Irradiation
Khasanshin R., Novikov L.
Investigation of the Structure and Functional Properties of Diamond-Like Coatings Obtained by Physical Vapor Deposition
Vysotina E., Kazakov V., Polyansky M., Savushkina S., Sivtsov K., Sigalaev S., Lyakhovetsky M., Mironova S., Zilova O.
On the effect of laser irradiation and heat treatment on the structure and field-emission properties of carbon nanowalls
Belyanin A., Borisov V., Samoylovich M., Bagdasarian A.
Study of the composition and properties of protective layers formed by the ion-beam-assisted deposition of cadmium, zinc, and aluminum onto steel surfaces
Poplavsky V., Dorozhko A., Matys V.
The effect of silicon-substrate orientation on the local piezoelectric characteristics of LiNbO3 films
Kiselev D., Zhukov R., Ksenich S., Kubasov I., Temirov A., Timushkin N., Bykov A., Malinkovich M., Shvartsman V., Lupascu D., Parkhomenko Y.
Influence of Focused Pulsed Laser Radiation on the Properties of Amorphous FeSi6B16 Metal Alloy
Zhikharev A., Bayankin V., Bystrov S., Orlova N.
Modification of the Nanoglobular Structure of Glassy Carbon by Heat Treatment and Ion Irradiation
Andrianova N., Borisov A., Kazakov V., Makunin A., Mashkova E., Ovchinnikov M.
Investigation of the Local Photoconductivity of ZrO2(Y) Films with Embedded Au Nanoparticles by Conductive Atomic Force Microscopy
Liskin D., Filatov D., Gorshkov O., Antonov D., Antonov I., Shenina M., Novikov A.
Studying the Adsorption of Fluorofullerene Molecules on the Surfaces of Solids at the Atomic Scale
Bakhtizin R., Oreshkin A., Muzychenko D., Oreshkin S., Yakovlev V.
Crystal Structure of the Intermetallic Thin-Film Cu–Sn Condensate
Makrushina A., Plotnikov V., Demyanov B., Makarov S.
Investigation of Ceramic-Like Coatings Formed on Aluminum Composites by Microarc Oxidation
Savushkina S., Agureev L., Ashmarin A., Ivanov B., Apelfeld A., Vinogradov A.
Application of ion implantation for the modification of silicon-on-sapphire epitaxial systems, their structure, and properties
Aleksandrov P., Demakov K., Shemardov S., Belova N.
Electron microscopy studies of crystallites in carbon nanopillars grown by low-temperature plasma-enhanced chemical-vapor deposition
Grishina Y., Borgardt N., Volkov R., Gromov D., Dubkov S.
Dislocation glide in GaN films grown by the lateral-overgrowth method induced by low-energy electron-beam irradiation
Yakimov E., Vergeles P.
Formation of intrinsic oxide nanocrystals on the surface of GaSe under laser irradiation
Novikov V., Sarkisov S.
Peculiarities of the initial stage of growth of niobium-based nanostructures on a Si(111)-7 × 7 surface
Putilov A., Muzychenko D., Aladyshkin A.
Structure of Yttrium Bis-Phthalocyanine Pyrolyzed Derivatives
Bairamukov V., Kuklin A., Orlova D., Lebedev V.
Studying the Formation of Single-Layer Graphene on the Surface of SiC
Gushchina E., Dunaevskiy M., Lebedev S., Eliseev I., Lebedev A.
Atomic Force Microscopy for Studies of Molecular Layering Products
Sosnov E., Kochetkova A.
Study of the Structure of Polyphthalocyanines by Transmission Electron Microscopy
Sedlovets D., Korepanov V., Khodos I.
Butyl-Xanthate Adsorption on the Surface of Sulfide Minerals under Conditions of their Preliminary Treatment with Water Electrolysis Products according to Atomic-Force Microscopy and Infrared Fourier Spectroscopy Data
Koporulina E., Ryazantseva M., Chanturiya E., Zhuravleva E.
HPHT single crystal diamond type IIB growth sector influence on the secondary electron emission phenomenon
Sadovoy V., Blank V., Teteruk D., Terentiev S., Kornilov N.
26 - 50 из 96 результатов << < 1 2 3 4 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».