Влияние добавки водорода на электрофизические параметры и спектры излучения плазмы тетрафторметана

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Исследовано влияние добавки водорода на электрофизические параметры и спектры излучения тетрафторметана в условиях тлеющего разряда постоянного тока. Установлено, что температуры газа нелинейно изменяется с увеличением доли водорода в плазмообразующей смеси. Получены и проанализированы спектры излучения плазмы тетрафторметана с водородом. Показано, что излучение плазмы представлено атомарными и молекулярными компонентами, а зависимости интенсивностей излучения линий от внешних условий разряда определяются возбуждением излучающих состояний при прямых электронных ударах.

Полный текст

1. ВВЕДЕНИЕ

Смеси фторсодержащих (CF4, CHF3, CF2H2) газов с инертными (Ar, He) и молекулярными (H2, O2, Cl2, N2) газами являются перспективными и широко применяемыми плазмообразующими средами при проведении плазмохимического и реактивно-ионного травления ряда металлов и полупроводников [1—3]. Кроме очевидных технологических преимуществ, таких как стабилизация зоны горения плазмы, увеличение анизотропии процесса, добавление к химически активному газу второго компонента способствует защите откачных средств и повышению экологической чистоты производства вследствие снижения токсичных компонентов в отходящих газах плазмохимических установок [1]. Помимо этого использование в качестве второго компонента молекулярного газа позволяет достигать ряда специфических эффектов при травлении ряда материалов, которые не достижимы с помощью однокомпонентного плазмообразующего газа. Например, добавка H2 способствует восстановлению поверхностных оксидов и/или так называемому полирующему травлению обрабатываемой поверхности, позволяет снизить расход фторсодержащего газа без большого уменьшения скорости травления, а в некоторых случаях даже приводит к увеличению этого параметра [4].

Наряду с внешними параметрами разряда (давление и расход газа, вкладываемая мощность) простое изменение начального состава смеси также позволяет регулировать конечный результат обработки. Последнее обусловлено влиянием второго компонента смеси на кинетику плазмохимических и реактивно-ионных процессов и концентрации активных частиц за счет изменения электрофизических параметров плазмы [5, 6]. Таким образом, для эффективной оптимизации процессов плазмохимического травления необходимо знание взаимосвязей между внешними (задаваемыми) параметрами плазмы и ее составом, определяющим стационарные плотности потоков активных частиц на обрабатываемую поверхность. Одним из способов получения подобной информации является оптическая эмиссионная спектроскопия [7, 8]. Целью данной работы являлось исследование влияния добавок водорода на электрофизические параметры и спектры излучения тетрафторметана в условиях тлеющего разряда постоянного тока и возможностей контроля относительных концентраций частиц по соответствующим интенсивностям излучения.

2. МЕТОДИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ

Для экспериментального исследования параметров тлеющего разряда постоянного тока в смеси CF4/H2 использовалась вакуумная установка с цилиндрическим проточным реактором (радиус r = 1.4 см, длина зоны разряда l = 56 см), изготовленным из молибденового стекла С-49. Электроды из анодированного алюминия располагались в боковых отростках и имели вид полых цилиндров. Длина разрядного промежутка составляла 36 см. В качестве внешних (задаваемых) параметров разряда выступали ток разряда (i = 10—35 мА), давление газа (p = 20—200 Па) и расход газа (q = 2 см3/с при нормальных условиях).

Откачка вакуумной системы осуществлялась вращательно-масляным форвакуумным насосом ВН-461 (предельное остаточное давление ~2 × 10–2 Па). Контроль давления остаточных газов осуществлялся с помощью манометрического термопарного датчика ПМТ-2, соединенного с вакуумметром ВТ-2А. Давление рабочей газовой смеси в реакторе измерялось U-образным манометром (рабочей жидкостью — силиконовое масло, ρ = 1.04 г/см3). Расход газов измеряли масляным капиллярным реометром, откалиброванным по тетрафторметану и водороду с помощью мерной бюретки известного объема. Газообразный тетрафторметан брали из металлического баллона с маркой “чистый”, содержание основного газа — не менее 99.5%. Водород получали с помощью электрохимического генератора водорода “Кулон-6”, обеспечивающего чистоту газа не менее 95%. Набор исследуемых газов осуществлялся в предварительно откачанные хлорвиниловые емкости. Газовые смеси готовились непосредственно в самой вакуумной системе методом объемного смешения компонентов. Начальный состав плазмообразующей смеси задавался изменением парциальных давлений компонентов в рамках постоянного общего давления.

Температура нейтральных частиц (T) рассчитывалась при решении уравнения теплового баланса реактора [9—11] с использованием экспериментальных данных по температуре наружной стенки, величина которой определялась с помощью хромель-копелевой термопары. Зондовая диагностика обеспечивала данные по осевой напряженности электрического поля в зоне положительного столба разряда (E). При определении приведенной напряженности поля E / N (N = p/(kgT) — общая концентрация частиц в реакторе) проводилось усреднение температуры предположении о заданном (Бесселевском) профиле радиального распределения этого параметра. Запись спектров излучения плазмы смеси CF4/H2 осуществлялась с помощью оптоволоконных спектрометров AvaSpec-3648 и AvaSpec-2048-2. Рабочий диапазон длин волн составлял 200—1000 нм. При расшифровке спектров использовались справочники [12, 13]. Контроль примесей компонентов атмосферного воздуха в основном газе осуществлялся качественно, по наличию или отсутствию полос излучения N2, OH и CO в спектрах излучения.

3. РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ

Как показали эксперименты, увеличение доли водорода при постоянстве силы тока приводит к уменьшению осевой напряженности электрического поля (табл. 1): в 1.7 раза для i = 15 мА и в 2 раза для i = 25 мА при росте доли водорода 0—100%. Падение осевой напряженности электрического поля также сопровождается монотонным уменьшением удельной мощности (рис. 1), вкладываемой в плазму CF4/H2. Также было установлено, что величина температуры газа (рис. 2) проходит через максимум при отметке 50% водорода в смеси, далее уменьшается до значений температуры соответствующей плазме чистого водорода (в диапазоне 0—50% водорода в смеси CF4/H2: при i = 15 мА температура увеличивалась от 330 до 340 К при i = 25 мА с 354 по 359 К, в 1.03 и 1.01 раза соответственно, а при 100% H2 в смеси температура уменьшалась до 323 и 336 К для i = 15 и 25 мА соответственно). Объяснением такого хода полученных зависимостей температуры газа с увеличением доли водорода в смеси, по нашему мнению, может являться рост коэффициента теплопроводности газа (увеличение параметра ηгаз в 10 раз при росте доли водорода 0—100% для обоих токов разряда).

 

Таблица 1. Зависимость осевой напряженности электрического поля и общей концентрации частиц от доли водорода в смеси CF4/H2

Доля H2 в смеси CF4/H2, %

i = 15 мА

i = 25 мА

Е, В/см

N, 10–15 –3

Е, В/см

N, 10–15 –3

0

26.75

21.95

31.95

20.46

20

21.51

21.42

24.94

20.12

50

19.17

21.27

20.65

20.13

80

16.23

21.75

16.95

20.80

100

15.97

22.31

16.10

21.56

 

Рис. 1. Зависимости удельной мощности, вкладываемой в разряд, от доли водорода в смеси CF4/H2.

 

Рис. 2. Зависимости температуры газа от доли водорода в смеси CF4/H2.

 

На рис. 3 показаны зависимости приведенной напряженности электрического поля E / N от доли водорода в смеси с тетрафторметаном для 15 и 25 мА. Из приведенных зависимостей видно, что напряженность электрического поля также плавно уменьшается от значения, соответствующего тетрафторметану, до значения, соответствующего чистому водороду, при этом характер зависимостей близок к линейному (в 1.7 раза для i = 15 мА и в 2.1 раза i = 25 мА). В плазме CF4 параметр величины приведенной напряженности поля является высоким из-за эффективного расходования электронов на процессы диссоциативного прилипания с молекулами тетрафторметана [14, 15]. При условии постоянства тока разряда рост доли водорода в смеси с тетрафторметаном приводит к уменьшению концентрации отрицательных ионов, росту концентрации электронов и, как следствие, к падению параметра E / N вследствие изменения режима диффузии электронов от свободного к амбиполярному при уменьшении электроотрицательности плазмы.

 

Рис. 3. Зависимости параметра приведенной напряженности электрического поля E / N от доли водорода в смеси с CF4/H2 для i = 15 и 25 мА.

 

На рис. 4 приведен обзорный спектр излучения плазмы смеси тетрафторметана с водородом. Из данного спектра видно, что излучение представлено атомарными и молекулярными компонентами. В спектрах излучения CF4 с H2 были обнаружены линии атомарного фтора в диапазоне 620—820 нм (самыми интенсивные — 685 и 703 нм). Также в спектрах были обнаружены три интенсивные линии атомарного водорода серии Бальмера: Hα (656 нм), Hβ (486 нм), Hγ (434 нм). Излучение атомарного углерода зафиксировано не было. Излучение молекулярных компонентов представлено системой полос CF в интервале от 200—230 нм, CF2 — в интервале 240—330 нм (интенсивными являются 262, 296 и 329 нм), F2 — 388 нм, CH —312 нм. Излучение молекул углерода представлено системами полос Свана (468, 471, 560 нм). Спектр излучения молекулярного водорода представлен полосами α-системы Фулхера (575—625 нм) и интенсивными полосами водорода с длинами волн 483 и 519 нм.

 

Рис. 4. Обзорный спектр излучения плазмы CF4/H2 (p = 100 Па, i = 25 мА).

 

Для дальнейшего анализа были выбраны линии атомов F 685 нм (εth = 14.50 эВ), F 703 нм (εth = 14.74 эВ), Hα 656 нм (εth = 12.09 эВ), Hβ 486 нм (εth = 12.75 эВ), полосы CF2 (262 нм), F2 (388 нм), H2 (603 нм). Данные излучательные состояния обладают высокой интенсивностью и не перекрываться с соседними максимумами. Также заметим, что высокие значения энергий возбуждения данных частиц позволяют рассматривать возбуждение электронным ударом как основной механизм заселения верхних состояний [14]. Кроме того, низкие времена жизни возбужденных состояний обуславливают излучательную дезактивацию как основной механизм гибели возбужденных частиц. Фактически это означает, что для всех указанных линий и полос заселенность возбужденного состояния и интенсивность излучения (I) пропорциональны скорости возбуждения Rex = kexnen, где kex — константа скорости возбуждения; ne — концентрация электронов; n — концентрация частиц в основном состоянии.

Для выбранных атомарных линий (рис. 5) и молекулярных полос (рис. 6) были получены зависимости интенсивности излучения от доли водорода в смеси CF4/H2. Из приведенных зависимостей (см. рис. 5) видно, что интенсивности излучения атомарных линий фтора с увеличением доли водорода в смеси CF4/H2 плавно уменьшаются (рис. 5, а), в то время как интенсивности излучения атомов водорода проходят через максимум и при доле водорода в смеси 80% выходят на стационарные значения (рис. 5, б). Из зависимостей рис. 6 видно, что происходит монотонное уменьшение интенсивности излучения молекулярного фтора, в то время как интенсивность увеличивается радикала CF2 достигает максимальных значений при 20% доли водорода в смеси тетрафторметаном. Интенсивность излучение молекулы H2 увеличивается (до 50% доли H2) и выходит на стационарные значения при высоких долях H2 в смеси CF4/H2.

 

Рис. 5. Зависимость интенсивности излучения атомов F (а) и H (б) от доли H2 в смеси CF4/H2, i = 25 мА.

 

Рис. 6. Зависимость интенсивности излучения молекул от доли H2 в смеси CF4/H2, i = 25 мА.

 

Такой ход зависимостей может быть связан со следующими причинами: падение интенсивности атомарного фтора связано с уменьшением концентрации последнего с увеличением доли водорода в смеси и расходовании атомов фтора в различных атомно-молекулярных (C2 + F = CF + C, H2 + F = HF + F, CH2 + F = CH + HF, CH + F = = CF + H, CH + F = HF + C), объемных (C + F = = CF, CF + F = CF2, F + F = F2) и гетерогенных (F → Fs, Fs + CF = CF2, Fs + H = CH, Fs + H2 = = HF + H) процессах [15]. Первоначальный рост интенсивностей атомов водорода, до 50% разбавления тетрафторметана, связан с увеличением доли водорода (H2 + e = H + H + e) в смеси CF4/H2. Дальнейший спад и выход значений интенсивностей излучения на стационар возможно связан изменением условий возбуждения, а также с расходованием частиц водорода в различных атомно-молекулярных (C2 + H = CH + C, CF2 + H = = CF + HF [16]), объемных (H + H = H2) и гетерогенных процессах. Отметим, что последнее частично или косвенно подтверждалось образованием полимерной пленки на внутренней поверхности плазмохимического реактора.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Проведены измерения электрофизических параметров плазмы смеси тетрафторметана с водородом. Показано, что величина температуры газа нелинейно изменяется с увеличением доли водорода в исследуемой смеси. Поведение приведенной напряженности электрического поля при малых давлениях типично для электроотрицательных и инертных газов. Получены и проанализированы спектры излучения плазмы смесей CF4 с водородом. Показано, что излучение плазмы представлено атомарными и молекулярными компонентами, а зависимости интенсивностей линий и полос от внешних условий разряда определяются возбуждением излучающих состояний прямым электронным ударом.

КОНФЛИКТ ИНТЕРЕСОВ

Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов.

×

Об авторах

Д. Б. Мурин

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Ивановский государственный химико-технологический университет”

Автор, ответственный за переписку.
Email: dim86@mail.ru
Россия, Иваново

А. Ю. Граждян

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Ивановский государственный химико-технологический университет”

Email: dim86@mail.ru
Россия, Иваново

И. А. Чесноков

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Ивановский государственный химико-технологический университет”

Email: dim86@mail.ru
Россия, Иваново

И. А. Гогулев

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Ивановский государственный химико-технологический университет”

Email: dim86@mail.ru
Россия, Иваново

Список литературы

  1. Данилин Б.С., Киреев В.Ю. Применение низкотемпературной плазмы для травления и очистки материалов / Под ред. Б.С. Данилина. М.: Энергоатомиздат, 1987. 264 с.
  2. Светцов В.И., Ефремов А.М. Вакуумная и плазменная электроника: учеб. пособие. Иван. гос. хим.-технол. ун-т. Иваново, 2003. 171 с.
  3. Wolf S., Tauber R.N. Silicon Processing for the VLSI Era. V. 1. Process Technology. N. Y.: Lattice Press, 2000. 890 p.
  4. Ефремов А.М., Мурин Д.Б. Кинетика гетерогенной гибели атомов хлора и водорода в плазме бинарных смесей HCl + Ar, H2, O2 и Cl2 // Химия высоких энергий. 2015. Т. 49. № 4. С. 318.
  5. Ефремов А.М., Мурин Д.Б. Электрофизические параметры плазмы бинарных смесей HCl + Ar, He, H2, O2 и Cl2 // Известия высших учебных заведений. Серия: химия и химическая технология. 2021. Т. 58. № 4. С. 14—18.
  6. Пивоваренок С.А., Мурин Д.Б., Граждян А.Ю. Влияние состава смеси на электрофизические параметры и спектры излучения плазмы тетрафторметана и трифторметана с азотом // Химия высоких энергий. 2023. Т. 57. № 2. С. 144—148.
  7. Мурин Д.Б., Ефремов А.М., Светцов В.И., Пивоваренок С.А., Годнев Е.М. Интенсивности излучения и концентрации нейтральных частиц в плазме тлеющего разряда постоянного тока в смесях HCl—H2 и HCl—O2 // Известия высших учебных заведений. Серия: Химия и химическая технология. 2013. Т. 56. № 8. С. 41—44.
  8. Мурин Д.Б., Ефремов А.М., Светцов В.И., Пивоваренок С.А., Овцын А.А., Шабадаров С.С. Интенсивности излучения и концентрации активных частиц в плазме тлеющего разряда в смесях хлористого водорода с аргоном и гелием // Известия высших учебных заведений. Серия: Химия и химическая технология. 2013. Т. 56. № 4. С. 29—32.
  9. Лебедев Ю.А. Методы контактной диагностики в неравновесной плазмохимии. М.: Наука, 1981. 142 с.
  10. Рохлин Г.Н. Разрядные источники света. 2-е изд., перераб. и доп. М.: Энергатомиздат, 1991. 720 с.
  11. Мурин Д.Б., Дунаев А.В. Электрофизические параметры и спектры излучения плазмы трихлорида бора // Микроэлектроника. 2018. Т. 47. № 2. С. 106—114.
  12. Пирс Р., Гейдон А. Отождествление молекулярных спектров. М.: Изд. иностр. лит., 1949. 540 с.
  13. Свентицкий А.Р., Стриганов Н.С. Таблицы спектральных линий нейтральных и ионизованных атомов. М. : Атомиздат, 1966. 900 с.
  14. Мурин Д.Б., Пивоваренок С.А., Чесноков И.А., Гогулев И.А. Электрофизические характеристики и эмиссионные спектры плазмы тетрафторметана // Микроэлектроника. 2023. Т. 52. № 1. С. 11—19.
  15. Ефремов А.М., Kвoн K.H., Мурин Д.Б. Параметры плазмы и кинетика активных частиц в смесях CF4(CHF3) + Ar переменного начального состава // Микроэлектроника. 2018. Т. 47. № 6. С. 414—423.
  16. Ефремов А.М., Мурин Д.Б., Kвoн K.-H. Параметры плазмы и механизмы травления кремния в смеси CF4 + CHF3 + O2 // Микроэлектроника. 2019. T. 48. № 6. C. 1—9.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Зависимости удельной мощности, вкладываемой в разряд, от доли водорода в смеси CF4/H2.

Скачать (97KB)
3. Рис. 2. Зависимости температуры газа от доли водорода в смеси CF4/H2.

Скачать (98KB)
4. Рис. 3. Зависимости параметра приведенной напряженности электрического поля E / N от доли водорода в смеси с CF4/H2 для i = 15 и 25 мА.

Скачать (102KB)
5. Рис. 4. Обзорный спектр излучения плазмы CF4/H2 (p = 100 Па, i = 25 мА).

Скачать (134KB)
6. Рис. 5. Зависимость интенсивности излучения атомов F (а) и H (б) от доли H2 в смеси CF4/H2, i = 25 мА.

Скачать (166KB)
7. Рис. 6. Зависимость интенсивности излучения молекул от доли H2 в смеси CF4/H2, i = 25 мА.

Скачать (126KB)

© Российская академия наук, 2024

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).