Study of Photodiodes Based on the InGaAs Structure with a Boundary Wavelength of 2.06 μm


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

IV characteristics and spectral photosensitivities of photodiodes based on epitaxially grown hydrides of metal-organic compounds (MOC-hydride epitaxy) of epitaxial structures with the In0.67Ga0.33As absorbing layer doped with Zn on the InP substrates are studied. The photodiodes are fabricated using the mesatechnology. The long-wavelength boundary of the spectral photosensitivity of diodes measured at half-maximum is 2.06 μm at room temperature. Photosensitivity spectra are studied in a temperature interval of 230–300 K.

Авторлар туралы

K. Boltar

Orion R&P Association; Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: orion@orion-ir.ru
Ресей, Moscow, 111538; Dolgoprudnyi, Moscow oblast, 141700

N. Irodov

Orion R&P Association

Email: bereg@niipolyus.ru
Ресей, Moscow, 111538

M. Sednev

Orion R&P Association

Email: bereg@niipolyus.ru
Ресей, Moscow, 111538

A. Marmalyuk

Stel’makh Research Institute “Polyus”

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: bereg@niipolyus.ru
Ресей, Moscow, 117342

M. Ladugin

Orion R&P Association

Email: bereg@niipolyus.ru
Ресей, Moscow, 111538

Yu. Ryaboshtan

Stel’makh Research Institute “Polyus”

Email: bereg@niipolyus.ru
Ресей, Moscow, 117342


© Pleiades Publishing, Inc., 2019

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>