English
Русский
简体中文
Kazakh
Português (Brasil)
Беттің Тақырыбы
Journal of Communications Technology and Electronics
ISSN 1064-2269 (Print) ISSN 1555-6557 (Online)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Барлық журналдар
  • Анықтамалық материалдар
    • Платформаны пайдалану бойынша нұсқаулық
    • RAS журналдарына арналған келісімге қол қою бойынша нұсқаулық
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Keywords: wireless network FPA HgCdTe InGaAs InGaAs/InP MCT UAV Wi-Fi avalanche photodiode combinatorial optimization dark current extremal ellipsoids heteroepitaxial structures image restoration indium antimonide interband tunnel current neural networks noise photodetector photodiode photosensitivity
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Keywords: wireless network FPA HgCdTe InGaAs InGaAs/InP MCT UAV Wi-Fi avalanche photodiode combinatorial optimization dark current extremal ellipsoids heteroepitaxial structures image restoration indium antimonide interband tunnel current neural networks noise photodetector photodiode photosensitivity
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Stepovik, A. P.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 62, № 8 (2017) Physical Processes in Electron Devices Effect of internal chip stripes on susceptibility to supershort ultrawideband electromagnetic pulses
Том 63, № 3 (2018) Physical Processes in Electron Devices Malfunctioning of Microcontroller Irradiated with Ultrashort Ultrabroadband Pulse Trains
Том 64, № 5 (2019) Physical Processes in Electron Devices Dependence of Microcontroller Failure Parameters via Ultrashort Radio Pulses under Operation Conditions
 

JOURNALS

Journals list

Search articles

LEGAL INFORMATION

Privacy Policy

User agreement

 

RCSI CONTATCS

phone: +7 (499) 941-01-15

address: Leninsky Prospekt 32a
Moscow, 119334

E-mail: info@rcsi.science

Technical support

E-mail: journals_support@rcsi.science 

PLATFORM POWERED BY

RUSSIAN CENTRE
FOR SCIENTIFIC INFORMATION

TOP