The Use of Finite Element Modeling for Calculating the C-V Curve of Capacitor Mems Microphone


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The C-V curve is an important characteristic of a MEMS microphone as it determines its operating voltage and sensitivity. Due to the complicated geometry of its fixed perforated backplate and thin movable diaphragm, it requires finite element modeling to calculate the C-V curve. Various methods to solve this problem are considered in this work, and implementation of the iterative calculation method using the ANSYS software package is proposed. The results obtained using the iterative method and the two calculating methods of electrostatic interaction built into the ANSYS software are compared and analyzed.

Об авторах

D. Grigor’ev

Scientific-Manufacturing Complex Technological Center MIET

Автор, ответственный за переписку.
Email: D.Grigorev@tcen.ru
Россия, Moscow, 124498

I. Godovitsyn

Scientific-Manufacturing Complex Technological Center MIET

Email: D.Grigorev@tcen.ru
Россия, Moscow, 124498

V. Amelichev

Scientific-Manufacturing Complex Technological Center MIET

Email: D.Grigorev@tcen.ru
Россия, Moscow, 124498

S. Generalov

Scientific-Manufacturing Complex Technological Center MIET

Email: D.Grigorev@tcen.ru
Россия, Moscow, 124498

S. Polomoshnov

Scientific-Manufacturing Complex Technological Center MIET

Email: D.Grigorev@tcen.ru
Россия, Moscow, 124498

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).