Device-Technological Modeling of Integrated Circuit Elements with Improved Resilience to External Influences

Y. A. Chaplygin; T. Y. Krupkina; A. Y. Krasukov; E. A. Artamonova

doi:10.1134/S1063739717070046

Device-Technological Modeling of Integrated Circuit Elements with Improved Resilience to External Influences

Авторлар: Chaplygin Y.A.¹, Krupkina T.Y.¹, Krasukov A.Y.¹, Artamonova E.A.¹
Мекемелер:
1. National Research University of Electronic Technology
Шығарылым: Том 46, № 7 (2017)
Беттер: 474-477
Бөлім: Article
URL: https://journals.rcsi.science/1063-7397/article/view/186639
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063739717070046
ID: 186639

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Аннотация
Авторлар туралы
Әдебиет тізімі
Қосымша файлдар
Статистика

Аннотация

This paper analyzes some features of the process and device simulation tools. The tools are analyzed as applied to the calculation of electrical characteristics for several integrated circuit (IC) devices operating under different external conditions. The model features having the maximum effect on the simulation results are identified.