X-ray fluorescence determination of the surface density of thin chromium and iron films using reference samples of elements with close atomic numbers


Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

In X-ray fluorescence determinations of the surface density of thin chromium and iron films, we studied the possibility of using an approach based on the application of reference samples of elements with close atomic numbers. It was shown that the proposed diagnostic approach ensures the determination of the surface density of films with rather high precision.

Sobre autores

N. Mashin

Nizhny Novgorod State University

Autor responsável pela correspondência
Email: mashin@chem.unn.ru
Rússia, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

E. Chernyaeva

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Rússia, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

A. Tumanova

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Rússia, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

A. Ershov

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Rússia, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950


Declaração de direitos autorais © Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Este site utiliza cookies

Ao continuar usando nosso site, você concorda com o procedimento de cookies que mantêm o site funcionando normalmente.

Informação sobre cookies