X-ray fluorescence determination of the surface density of thin chromium and iron films using reference samples of elements with close atomic numbers


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

In X-ray fluorescence determinations of the surface density of thin chromium and iron films, we studied the possibility of using an approach based on the application of reference samples of elements with close atomic numbers. It was shown that the proposed diagnostic approach ensures the determination of the surface density of films with rather high precision.

Авторлар туралы

N. Mashin

Nizhny Novgorod State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: mashin@chem.unn.ru
Ресей, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

E. Chernyaeva

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Ресей, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

A. Tumanova

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Ресей, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950

A. Ershov

Nizhny Novgorod State University

Email: mashin@chem.unn.ru
Ресей, pr. Gagarina 23, building 5, Nizhny Novgorod, 603950


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>