Study into the properties of TiN/WN multilayer nanocoatings prepared via magnetron sputtering


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Titanium-nitride (TiN) and tungsten-nitride (WN) thin films with a layer thickness of 6 nm, which are obtained via magnetron sputtering on silicon substrates, are studied. The structural and mechanical properties are presented.

Негізгі сөздер

Авторлар туралы

V. Bodnarchuk

Joint Institute for Nuclear Research

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Ресей, Dubna, Moscow oblast, 141980

P. Petrov

Institute of Electronics

Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Болгария, Sofia, 1784

D. Kozlenko

Joint Institute for Nuclear Research

Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Ресей, Dubna, Moscow oblast, 141980

D. Dechev

Institute of Electronics

Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Болгария, Sofia, 1784

N. Ivanov

Institute of Electronics

Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Болгария, Sofia, 1784

I. Martev

Institute of Electronics

Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Болгария, Sofia, 1784

I. Kasatkin

St. Petersburg State University

Email: bodnarch@nf.jinr.ru
Ресей, St. Petersburg, 199034

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017