Іздеу

Шығарылым
Атауы
Авторлар
Том 12, № 3 (2018)
Monte Carlo Method in Scanning Electron Microscopy. 3. Modern Condition of the Problem
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 12, № 1 (2018)
Monte Carlo Method in Scanning Electron Microscopy. 2. Problems and Solutions
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 4 (2019)
Optimization of the Electron Optical System of a Scanning Electron Microscope for Measuring the Size of Micro- and Nanoobjects
Kazmiruk V., Kurganov I., Podkopaev A., Savitskaya T.
PDF
(Eng)
Том 11, № 4 (2017)
Monte Carlo method in scanning electron microscopy. 1. Modeling and experiment
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 12, № 1 (2018)
On the Precision Preparation of Samples for Atom Probe Tomography Using a Focused Ion Beam in a SEM
Khoroshilov V., Korchuganova O., Lukyanchuk A., Raznitsyn O., Aleev A., Rogozhkin S.
PDF
(Eng)
Том 10, № 6 (2016)
Estimation of the diameter of a SEM beam by video-signal curves from a trapezoidal Structure: 2. Experiment
Larionov Y.
PDF
(Eng)
Том 11, № 6 (2017)
Test Object for SEM Calibration. 1. Methods for Quality Control of Manufacturing
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 1 (2019)
Electron Microscopic Study of Siliceous-Carbonate Rocks of the Domanikoid Type
Kuzmin V., Skibitskaya N.
PDF
(Eng)
Том 13, № 6 (2019)
Test Objects with a Rectangular Profile for SEM: 1. Fabrication Technology
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 4 (2019)
Formation of SEM Images in the Slow Secondary Electron Mode. 1. Structures with Large Side Wall Inclinations
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Test Object for SEM Calibration: 2. Correlation Analysis of SEM Signals
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 10, № 5 (2016)
Backscattered electron imaging of micro- and nanostructures: 5. SEM signal formation model
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 6 (2019)
Electron-Microscopy Studies of Microstructural Features of the Pore Space in Polymictic Sandstones
Kuzmin V., Skibitskaya N.
PDF
(Eng)
Том 10, № 1 (2016)
Backscattered electron imaging of microand nanostructures: 4. Structures with a trapezoidal profile and large side-wall inclination angles
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 5 (2019)
Formation of SEM Images in the Secondary Electron Mode. 2. Structures with a Trapezoidal Profile and Small Side-Wall Inclinations
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 11, № 4 (2017)
Calibration of a scanning electron microscope from two coordinates
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Нәтижелер 16 - 1/16
Сыбырсөздер:
  • Негізгі сөздер тіркелімге сезімтал< / li>
  • Ағылшын предлогтары мен одақтары еленбейді
  • Әдепкі бойынша іздеу барлық негізгі сөздер үшін жасалады (агенс AND экспериенцер)
  • Белгілі бір терминді табу үшін OR қолданыңыз. білім беру OR оқыту
  • мысалы, күрделі сөз тіркестерін жасау үшін жақшаларды қолданыңыз. мұрағат ((журналдар OR конференциялар) NOT диссертациялар)
  • Нақты фразаны табу үшін, мысалы, тырнақшаларды қолданыңыз. "ғылыми зерттеулер"
  • сөзді - (сызықша) немесе not операторының көмегімен алып тастаңыз; мысалы. сұлулық байқауы< / em > немесе сұлулық байқауы< / em > < / li>
  • мысалы, нұсқа ретінде * қолданыңыз. ғылым* "ғылыми","ғылыми"және т. б. сөздерді қамтиды< / li> < / < / к-сі>