Поиск

Выпуск
Название
Авторы
On the thermal oxidation of VxOy–InP heterostructures formed by the centrifugation of vanadium(V) oxide gel
Sladkopevtsev B., Tomina E., Mittova I., Dontsov A., Pelipenko D.
Atоmiс Force Microscopy of Graphene-Like Films Deposited onto Preirradiated SiO2/Si
Sedlovets D., Knyazev M., Trofimov O.
Influence of annealing temperature and its atmosphere on the properties of zinc implanted silicon
Privezentsev V., Kulikauskas V., Zatekin V., Shcherbachev K., Tabachkova N., Eidelman K., Ksenich S., Batrakov A.
Influence of the Substrate Type on the Surface Morphology of Cu2ZnSnSe4 Thin Films
Baraishuk S., Tkachenko T., Stanchik A., Gremenok V., Bashkirov S., Wiertel M., Budzynski M., Turovets A., Yakovenko Y.
Atomic-Force-Microscopy Analysis of Uranium Bis-Phthalocyanine and Its Pyrolysed Derivatives
Bairamukov V., Lebedev V., Tikhonov V.
Features of determination of the surface roughness using scanning probe microscopy
Novikov V.
Influence of Focused Pulsed Laser Radiation on the Properties of Amorphous FeSi6B16 Metal Alloy
Zhikharev A., Bayankin V., Bystrov S., Orlova N.
Evolution of surface morphology during the growth of amorphous and polycrystalline silicon films
Novak A., Novak V., Smirnov D.
AFM study of thin films of oligopeptide L-valyl-L-valine before and after interaction with vapors
Ziganshin M., Gubina N., Gorbatchuk V., Ziganshina S., Chuklanov A., Bizyaev D., Bukharaev A.
Solid-Phase Interaction in Fullerite-Bismuth Films in the Process of Thermal Annealing
Baran L.
Investigation of the surface-potential distribution of epitaxial CdHgTe films
Novikov V., Grigoryev D., Voitsekhovskii A., Dvoretsky S., Mikhailov N.
Atomic-Force Microscopy in the Study of the Tribological Characteristics of Thin Al−Si−N Coatings
Kuznetsova T., Zubar T., Lapitskaya V., Sudilovskaya K., Chizhik S., Uglov V., Shimanskii V., Kvasov N.
Effect of residual atmospheric pressure on the development of electrostatic discharges at the surface of protective glasses of solar cells
Khasanshin R., Novikov L., Korovin S.
Influence of the probe sizes on the parameters of the surface morphology of hemispherical-grain polysilicon films: Estimation via atomic-force microscopy
Novak A., Novak V.
Electrical Activity of Surface Steps on a Sapphire Crystal Substrate for Epitaxy
Vlasov V., Kanevsky V., Butashin A., Muslimov A.
Surface morphology and electrocatalytic properties of nickel nanoparticles formed in track pores
Ziganshina S., Chuklanov A., Biziaev D., Bukharaev A.
Butyl-Xanthate Adsorption on the Surface of Sulfide Minerals under Conditions of their Preliminary Treatment with Water Electrolysis Products according to Atomic-Force Microscopy and Infrared Fourier Spectroscopy Data
Koporulina E., Ryazantseva M., Chanturiya E., Zhuravleva E.
Formation of intrinsic oxide nanocrystals on the surface of GaSe under laser irradiation
Novikov V., Sarkisov S.
1 - 18 из 18 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».