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Volume 10, Nº 5 (2016)
On the formation of X-ray microbeams utilizing a short-focus refractive lens and a laboratory radiation source
Dudchik Y., Ershov P., Polikarpov M., Goikhman A., Snigireva I., Snigirev A.
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(Eng)
Volume 13, Nº 4 (2019)
Kirkpatrick–Baez and Wolter X-Ray Focusing Optics (Review)
Lider V.
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(Eng)
Volume 11, Nº 1 (2017)
Current status and development prospects for multilayer X-ray optics at the Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences
Akhsakhalyan A., Kluenkov E., Lopatin A., Luchin V., Nechay A., Pestov A., Polkovnikov V., Salashchenko N., Svechnikov M., Toropov M., Tsybin N., Chkhalo N., Shcherbakov A.
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(Eng)
Volume 13, Nº 6 (2019)
Focusing Properties of Bent Micro-Channel Plates in the X-Ray Range
Mazuritskiy M., Lerer A., Dabagov S., Marcelli A., Hampai D., Dziedzic-Kocurek K.
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(Eng)
Volume 13, Nº 3 (2019)
On the Surface Structure of Microchannel Plates and the Excitation of X-Ray Fluorescence in Hollow Microcapillaries
Mazuritskiy M., Lerer A., Kulov S., Samkanashvili D.
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(Eng)
Volume 13, Nº 2 (2019)
On the Possibilities of Multilayer Mirrors for Measuring the Concentration of Boron Impurities in Diamond
Garakhin S., Polkovnikov V., Chkhalo N.
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(Eng)
Volume 12, Nº 6 (2018)
Current State of Development of a Microscope Operating at a Wavelength of 3.37 nm at the Institute of Physics of Microstructures of the Russian Academy of Sciences
Malyshev I., Pestov A., Polkovnikov V., Salashchenko N., Toropov M., Chkhalo N.
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(Eng)
Volume 11, Nº 3 (2017)
The effect of bombardment with neutralized neon ions on the roughness of a fused silica and beryllium surface
Zorina M., Mikhaylenko M., Pariev D., Pestov A., Salashchenko N., Strulya I., Churin S., Chkhalo N.
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(Eng)
Volume 13, Nº 3 (2019)
A Study of the Kinetics of Oxidation of Titanium Nanolayers and Their Application in Neutron Optical Devices
Matveev V., Pleshanov N.
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(Eng)
Volume 13, Nº 2 (2019)
Internal Stresses in Mo/Y Multilayer Mirrors
Kvashennikov D., Vainer Y., Zuev S., Polkovnikov V.
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(Eng)
Volume 12, Nº 5 (2018)
Development of Field Alignment Methods for Electron-Вeam Lithography in the Case of X-Ray Bragg–Fresnel Lenses
Knyazev M., Svintsov A., Fahrtdinov R.
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(Eng)
Volume 12, Nº 5 (2018)
Maskless X-Ray Lithography Based on Microoptical Electromechanical Systems and Microfocus X-Ray Tubes
Salashchenko N., Chkhalo N., Dyuzhev N.
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(Eng)
Volume 10, Nº 2 (2016)
Resonant excitation and spatial distribution of fluorescent X-rays at the output of polycapillary structures
Mazuritskiy M., Lerer A.
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(Eng)
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