Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Том 12, № 5 (2018)
Modification of Zinc-Implanted Silicon by Swift Xenon Ion Irradiation
Privezentsev V., Skuratov V., Kulikauskas V., Makunin A., Ksenich S., Steinman E., Tereshchenko A., Goryachev A.
PDF
(Eng)
Том 13, № 2 (2019)
On the Formation of Microheterogeneities in Epitaxial Films of Nonstoichiometric Ferrogarnets
Bulatov M., Churikov D.
PDF
(Eng)
Том 11, № 5 (2017)
Investigation of crystal imperfections with multiple X-Ray interferometers
Drmeyan H., Melkonyan A., Knyazyan Z.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Radiation effects in high-temperature composite superconductors
Troitskii A., Demikhov T., Antonova L., Didyk A., Mikhailova G.
PDF
(Eng)
Том 13, № 1 (2019)
Study of Extended Electrically Active Defects in Heterostructures Based on (Ga,Mn)As/(In,Ga)As by Electron Beam-Induced Current and Deep-Level Transient Spectroscopy
Soltanovich O., Kovalskiy V., Vergeles P., Dorokhin M., Danilov Y.
PDF
(Eng)
Том 11, № 5 (2017)
Features of changes in the surface structure of K-208 glass under electron—proton irradiation
Khasanshin R., Novikov L., Korovin S.
PDF
(Eng)
Том 10, № 1 (2016)
Procedure for determining defects in sputtered clusters of ionic crystals
Sharopov U., Atabaev B., Djabbarganov R., Kurbanov M., Sharipov M.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Near-Field Defects Imaging in Thin DLC Coatings Using High-Frequency Scanning Acoustic Microscopy
Zinin P., Kutuza I., Titov S.
PDF
(Eng)
Том 11, № 3 (2017)
Mechanical activation and electrophysical properties of Pb(Zr0.58Ti0.42)O3
Sirota M., Abdulvakhidov K.
PDF
(Eng)
Том 10, № 1 (2016)
On the processes upon the second-photon-stimulated annealing of InAs layers implanted with Be+ ions
Artamonov A., Astakhov V., Karpov V.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Structure and Phase Composition of Multilayer AlN/SiN Films Irradiated with Helium Ions
Uglov V., Shymanski V., Korenevski E., Remnev G., Kvasov N.
PDF
(Eng)
Том 11, № 3 (2017)
Atomistic simulation of the segregation of alloying elements close to radiation-induced defects in irradiated Fe–Cr–Ni BCC alloys
Bakaev A., Terentyev D., Zhurkin E.
PDF
(Eng)
Том 11, № 2 (2017)
Role of vacancies and adsorbed atoms in the channeling of molecular particles in CNTs
Aleksandrov V., Sabirov A.
PDF
(Eng)
Том 13, № 5 (2019)
Electron Microscopic Study of the Influence of Annealing on Ge–Sb–Te Thin Films Obtained by Vacuum Thermal Evaporation
Sybina Y., Borgardt N., Lazarenko P., Parsegova V., Prikhodko A., Sherchenkov A.
PDF
(Eng)
Том 12, № 4 (2018)
Effect of Segregation of Ni and Cr at Dislocation Loops on Their Interaction with Gliding Dislocations in Irradiated Fe−Ni−Cr BCC Alloys
Bakaev A., Terentyev D., Zhurkin E.
PDF
(Eng)
Том 11, № 1 (2017)
Effective concentration of electrons in metals upon measurements via positron annihilation spectroscopy
Grafutin V., Prokopiev E., Khmelevsky N.
PDF
(Eng)
Том 13, № 4 (2019)
Method of Laser Thermal Image Spectroscopy for Surface Diagnostics
Demin S., Prokopenko V., Shalobaev E., Demin A., Demina A.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
On the Implantation of Protons into Silicon Plates in the Case of a Mechanically Stressed Surface Layer
Dyachkova I., Novoselova E., Smirnov I.
PDF
(Eng)
Том 10, № 5 (2016)
Investigation of the surface-potential distribution of epitaxial CdHgTe films
Novikov V., Grigoryev D., Voitsekhovskii A., Dvoretsky S., Mikhailov N.
PDF
(Eng)
Том 13, № 3 (2019)
Formation of Carbon-Nanotube Layers on Bulk Nickel: The Effect of Surface Topography Defects
L’vov S., Kukovitsky E., Shustov V., Lyadov N.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
Effect of Radiation-Induced Defects Produced by Low-Energy Protons in a Heavily Doped Layer on the Characteristics of n+‒p‒p+ Si Structures
Agafonov Y., Bogatov N., Grigorian L., Zinenko V., Kovalenko A., Kovalenko M., Kolokolov F.
PDF
(Eng)
Том 10, № 3 (2016)
On the annealing of radiation-induced point defects in tungsten
Ryabtsev S., Gasparyan Y., Zibrov M., Pisarev A.
PDF
(Eng)
1 - 22 из 22 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».