Surface Reactivity of Single-Crystal Silicon in Atomic Layer Deposition Processes


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A macromolecular concept of the structure of solids and induction constants are used to quantitatively assess the reactivity of hydroxyl groups on the surface of single-crystal matrices, as exemplified by silicon. The oxide layer on the surface of such matrices is shown to influence the reactivity of silanol groups in atomic layer deposition processes.

Негізгі сөздер

Авторлар туралы

Yu. Ezhovskii

St. Petersburg State Technological Institute (Technical University)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: ezhovski1@mail.ru
Ресей, Moskovskii pr. 26, St. Petersburg, 190013

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019