Effect of internal chip stripes on susceptibility to supershort ultrawideband electromagnetic pulses


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Reversible functional failure of an ATmega 8515 microcontroller (MC) is used to demonstrate the importance of internal stripes of chips in radio-transparent package in the analysis of susceptibility of microelectronic components to radio-frequency radiation. Experiments under different conditions for MC irradiation are performed and induced electric voltages are calculated using the simplest model of antenna reception. The calculated results are in qualitative agreement with the experimental data.

Об авторах

A. Stepovik

Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: dep5@vniitf.ru
Россия, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770

E. Shamaev

Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics

Email: dep5@vniitf.ru
Россия, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770

M. Armanov

Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics

Email: dep5@vniitf.ru
Россия, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).