Technical Physics Letters
ISSN 1063-7850 (Print)
ISSN 1090-6533 (Online)
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Drozdov, M.
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卷 42, 编号 3 (2016)
Article
Nonlinear calibration curves in secondary ion mass spectrometry for quantitative analysis of gesi heterostructures with nanoclusters
卷 42, 编号 8 (2016)
Article
Extremely deep profiling analysis of the atomic composition of thick (>100 μm) GaAs layers within power PIN diodes by secondary ion mass spectrometry
卷 43, 编号 5 (2017)
Article
Selective analysis of the elemental composition of InGaAs/GaAs nanoclusters by secondary ion mass spectrometry
卷 44, 编号 4 (2018)
Article
New Cluster Secondary Ions for Quantitative Analysis of the Concentration of Boron Atoms in Diamond by Time-of-Flight Secondary-Ion Mass Spectrometry
卷 44, 编号 4 (2018)
Article
A New Limitation of the Depth Resolution in TOF-SIMS Elemental Profiling: the Influence of a Probing Ion Beam
卷 45, 编号 1 (2019)
Article
Experimental Observation of the Confinement of Atomic Collision Cascades during Ion Sputtering of Porous Silicon
卷 45, 编号 1 (2019)
Article
A New Approach to TOF-SIMS Analysis of the Phase Composition of Carbon-Containing Materials
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