Local Oscillations of Silicon–Silicon Bonds in Silicon Nitride


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Raman spectra of films of nearly stoichiometric amorphous silicon nitride (a-Si3N4) reveal a contribution due to local oscillations of silicon–silicon (Si–Si) bonds. This observation directly confirms that the almost stoichiometric a-Si3N4 contains Si–Si bonds, which, according to theoretical predictions, act as electron and hole traps that are responsible for the memory effect in Si3N4.

Об авторах

V. Volodin

Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: volodin@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

V. Gritsenko

Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University; Novosibirsk State Technical University

Email: volodin@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

A. Chin

National Chao Tung University

Email: volodin@isp.nsc.ru
Тайвань, Hsinchu, Taiwan


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах