Local Oscillations of Silicon–Silicon Bonds in Silicon Nitride


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Raman spectra of films of nearly stoichiometric amorphous silicon nitride (a-Si3N4) reveal a contribution due to local oscillations of silicon–silicon (Si–Si) bonds. This observation directly confirms that the almost stoichiometric a-Si3N4 contains Si–Si bonds, which, according to theoretical predictions, act as electron and hole traps that are responsible for the memory effect in Si3N4.

Авторлар туралы

V. Volodin

Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: volodin@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

V. Gritsenko

Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University; Novosibirsk State Technical University

Email: volodin@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

A. Chin

National Chao Tung University

Email: volodin@isp.nsc.ru
Қытай республикасы, Hsinchu, Taiwan


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>