Информация об авторе

Shvetsov-Shilovskii, I. I.

Выпуск Раздел Название Файл
Том 48, № 4 (2019) Article Inter-Device Radiation-Induced Leakages in the Bulk 180-nm CMOS Technology

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах