Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN 1028-0960 (Print)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Архив
Контакты
Все журналы
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
другие журналы
Ключевые слова
ИК-спектроскопия
атомно-силовая микроскопия
ионный пучок
компактный источник нейтронов
компьютерное моделирование
магнетронное распыление
микроструктура
морфология
морфология поверхности
наночастицы
нейтронная рефлектометрия
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
синхротронное излучение
сканирующая зондовая микроскопия
структура
тонкие пленки
фазовый состав
численное моделирование
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
×
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
другие журналы
Ключевые слова
ИК-спектроскопия
атомно-силовая микроскопия
ионный пучок
компактный источник нейтронов
компьютерное моделирование
магнетронное распыление
микроструктура
морфология
морфология поверхности
наночастицы
нейтронная рефлектометрия
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
синхротронное излучение
сканирующая зондовая микроскопия
структура
тонкие пленки
фазовый состав
численное моделирование
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Главная
>
Поиск
>
Информация об авторе
Информация об авторе
Chkhalo, N. I.
Выпуск
Раздел
Название
Файл
№ 5 (2023)
Статьи
Проект сканирующего и проекционного микроскопов для станции “Наноскопия” для биологических исследований в “окне прозрачности воды”
№ 8 (2023)
Статьи
Определение размера лазерно-плазменного источника ЭУФ-излучения для микроскопа
№ 12 (2023)
Статьи
Исследование отражательной способности и микроструктуры многослойных зеркал Mo/Be
№ 12 (2023)
Статьи
Измерение теплофизических характеристик тонкопленочных металлических фильтров экстремального ультрафиолетового излучения
№ 12 (2023)
Статьи
Перспективы применения жидкого стекла для сглаживания поверхности оптических элементов
№ 12 (2023)
Статьи
Исследование влияния травления ионными пучками на шероховатость поверхности монокристаллического сапфира
№ 12 (2023)
Статьи
Исследование рентгенооптических и механических характеристик многослойных зеркал C/Si и B
4
C/Si
Данный сайт использует cookie-файлы
Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.
О куки-файлах
TOP