Study of Reflectivity and Microstructure of Mo/Be Multilayer Mirrors

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

The reflection coefficient and microstructure of Mo/Be multilayer mirrors were studied as functions of Γ, the ratio of the Mo layer thickness to the period dp. The thickness and period of the layers were studied using X‑ray diffraction (wavelength 0.154 nm). Clearly defined high-intensity Bragg reflection peaks indicate good reproducibility of layer thicknesses over the depth of the multilayer structure and high quality of interfaces. The reflectivity of the mirror at a wavelength of 11.4 nm was maximum 62% at Γ = 0.42. It sharply decreased at higher and lower values of Γ. Both Mo and Be layers at Γ = 0.42 were polycrystals, which were studied using X-ray diffraction and Raman spectroscopy, respectively. It was also found that the sizes of crystallites almost coincided with the thicknesses of the Be and Mo layers in the period.

About the authors

G. D. Antysheva

Institute for Physics of Microstructures RAS; Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod

Author for correspondence.
Email: sikretnoo@mail.ru
Russia, 603087, Afonino, ,; Russia, 603950, Nizhny Novgorod

N. Kumar

Institute for Physics of Microstructures RAS

Author for correspondence.
Email: kumar@ipmras.ru
Russia, 603087, Afonino, ,

R. S. Pleshkov

Institute for Physics of Microstructures RAS

Email: kumar@ipmras.ru
Russia, 603087, Afonino, ,

P. A. Yunin

Institute for Physics of Microstructures RAS; Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod

Email: kumar@ipmras.ru
Russia, 603087, Afonino, ,; Russia, 603950, Nizhny Novgorod

V. N. Polkovnikov

Institute for Physics of Microstructures RAS

Email: kumar@ipmras.ru
Russia, 603087, Afonino, ,

N. I. Chkhalo

Institute for Physics of Microstructures RAS

Email: kumar@ipmras.ru
Russia, 603087, Afonino, ,

References

  1. Medvedev R.V., Zameshin A.A., Sturm J.M., Yakshin A.E., Bijkerk F. // AIP Adv. 2020. V. 10. P. 45305. https://doi.org/10.1063/1.5143397
  2. Underwood J.H., Barbee T.W., Jr., Frieber C. // Appl. Opt. 1986. V. 25. P. 1730. https://doi.org/10.1364/AO.25.001730
  3. Yu B., Jin C., Yao S., Li C., Liu Y., Zhou F., Guo B., Wang H., Xie Y., Wang L. // Appl. Opt. 2017. V. 56. P. 7462. https://doi.org/10.1364/AO.56.007462
  4. Huang Q., Medvedev V., van de Kruijs R., Yakshin A., Louis E., Bijkerk F. // Appl. Phys. Rev. 2017. V. 4. P. 11104. https://doi.org/10.1063/1.4978290
  5. Akhsakhalyan A.D., Kluenkov E.B., Lopatin A.A., Luchin V.I., Nechay A.N., Pestov A.E., Polkovnikov V.N., Salashchenko N.N., Svechnikov M.V., Toropov M.N., Tsybin N.N., Chkhalo N.I., Shcherbakov A.V. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2017. V. 11. P. 1. https://doi.org/10.7868/S0207352817010048
  6. Bajt S. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2000. V. 18. P. 557.
  7. Svechnikov M.V., Chkhalo N.I., Gusev S.A., Nechay A.N., Pariev D.E., Pestov A.E., Polkovnikov V.N., Tatarskiy D.A., Salashchenko N.N., Schafers F., Sertsu M.G., Sokolov A., Vainer Y.A., Zorina M.V. // Optics Express. 2018. V. 26. P. 33718. https://doi.org/10.1364/OE.26.033718
  8. Полковников В.Н., Салащенко Н.Н., Свечников М.В., Чхало Н.И. // УФН. 2020. Т. 190. С. 92. https://doi.org/10.3367/UFNr.2019.05.038623
  9. Kumar N., Pleshkov R.S., Garakhin S.A., Nezhdanov A.V., Yunin P.A., Polkovnikov V.N., Chkhalo N.I. // Surf. Interfaces. 2022. V. 28. P. 101656. https://doi.org/10.1016/j.surfin.2021.101656
  10. Kozakov A.T., Kumar N., Garakhin S.A., Polkovnikov V.N., Chkhalo N.I., Nikolskii A.V., Scrjabin A.A., Nezhdanov A.V., Yunin P.A. // Appl. Surf. Sci. 2021. V. 566. P. 150616. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2021.150616
  11. Kumar N., Pleshkov R.S., Nezhdanov A.V., Polkovnikov V.N., Yunin P.A., Chkhalo N.I., Mashin A.I. // J. Phys. Chem. 2021. V. 125. P. 2729. https://doi.org/10.1021/ACS.JPCC.0C10210
  12. Pardanaud C., Rusu M.I., Giacometti G., Martin C., Addab Y., Roubin P., Lungu C.P., Porosnicu C., Jepu I., Dinca P., Lungu M., Pompilian O.G., Mateus R., Alves E., Rubel M. // Phys. Scr. 2016. V. 167. P. 14027. https://doi.org/10.1088/0031-8949/T167/1/014027
  13. Feldman D.W., Parker J.H., Jr., Ashkin M. // Phys. Rev. Lett. 1968. V. 21. P. 607. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.21.607
  14. Roy A.P., Dasannacharya B.A., Thaper C.L., Iyengar P.K. // Phys. Rev. Lett. 1973. V. 30. P. 906. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.30.906
  15. Nedelcu I., van de R.W.E., Yakshin A.E., Bijkerk F. // Phys. Rev. B. 2007. V. 76. P. 245404. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.76.245404
  16. Гарахин С.А., Забродин И.Г., Зуев С.Ю., Каськов И.А., Лопатин А.Я., Нечай А.Н., Полковников В.Н., Салащенко Н.Н., Цыбин Н.Н., Чхало Н.И. // Квантовая электроника. 2017. Т. 47. № 4. С. 385.
  17. Landau L.D., Lifshitz E.M. Electrodynamics of Continuous Media. Oxford: Pergamon Press, 1984. 475 p.
  18. Starkov I.A., Starkov A.S. // J. Phys.: Conf. Ser. 2016. V. 741. P. 12004. https://doi.org/10.1088/1742-6596/741/1/012004
  19. Chkhalo N.I., Fedorchenko M.V., Kovalenko N.V., Kruglyakov E.P., Volokhov A.I., Chernov V.A., Mytnichenko S.V. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1995. V 359. P. 121. https://doi.org/10.1016/0168-9002(94)01633-X
  20. Svechnikov M. // J. Appl. Crystallogr. 2020. V. 53. P. 244. https://doi.org/10.1107/S160057671901584X
  21. Kumar N., Pleshkov R.S., Nezhdanov A.V., Polkovnikov V.N., Yunin P.A., Chkhalo N.I., Mashin A.I. // J. Phys. Chem. C. 2021. V. 125. P. 2729. https://doi.org/10.1021/ACS.JPCC.0C10210

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2.

Download (413KB)
3.

Download (236KB)

Copyright (c) 2023 Г.Д. Антышева, Н. Кумар, Р.С. Плешков, П.А. Юнин, В.Н. Полковников, Н.И. Чхало

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».