Мақаланы E-mail арқылы жіберу Neutron Reflectometry Studies of ZnO Films
- Авторлар: Zhaketov V.D.1, Chitanu E.2, Nikitenko Y.V.1
-
Мекемелер:
- Joint Institute for Nuclear Research
- National Institute for Electrical Engineering ICPE-CA
- Шығарылым: Том 12, № 4 (2018)
- Беттер: 658-664
- Бөлім: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/1027-4510/article/view/195711
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1027451018040195
- ID: 195711
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
Textured Al-doped ZnO films are studied using neutron reflectometry. The films are quasiperiodic structures with a period of several nanometers. The films are inhomogeneous in a surface layer with a thickness of 10–20 nm.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
V. Zhaketov
Joint Institute for Nuclear Research
Email: nikiten@nf.jinr.ru
Ресей, Dubna, Moscow oblast, 141980
E. Chitanu
National Institute for Electrical Engineering ICPE-CA
Email: nikiten@nf.jinr.ru
Румыния, Bucharest
Yu. Nikitenko
Joint Institute for Nuclear Research
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: nikiten@nf.jinr.ru
Ресей, Dubna, Moscow oblast, 141980
Қосымша файлдар
