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Volume 13, Nº 6 (2019)
Morphological and Optical Properties of Cu1 –xZnxO Nanoparticles
Srinivasan N.
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(Eng)
Volume 12, Nº 3 (2018)
Study of the Microstructure, Crystallographic Structure and Thermal Stability of Al–Ti–Nb Alloys Produced by Selective Electron Beam Alloying
Valkov S., Neov D., Bezdushnyi R., Beskrovnyi A., Kozlenko D., Petrov P.
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(Eng)
Volume 13, Nº 5 (2019)
Formation of SEM Images in the Secondary Electron Mode. 2. Structures with a Trapezoidal Profile and Small Side-Wall Inclinations
Novikov Y.
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(Eng)
Volume 12, Nº 1 (2018)
On the Precision Preparation of Samples for Atom Probe Tomography Using a Focused Ion Beam in a SEM
Khoroshilov V., Korchuganova O., Lukyanchuk A., Raznitsyn O., Aleev A., Rogozhkin S.
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(Eng)
Volume 13, Nº 5 (2019)
Atоmiс Force Microscopy of Graphene-Like Films Deposited onto Preirradiated SiO2/Si
Sedlovets D., Knyazev M., Trofimov O.
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(Eng)
Volume 11, Nº 6 (2017)
Test Object for SEM Calibration. 1. Methods for Quality Control of Manufacturing
Novikov Y.
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(Eng)
Volume 13, Nº 5 (2019)
Electron Microscopic Study of the Influence of Annealing on Ge–Sb–Te Thin Films Obtained by Vacuum Thermal Evaporation
Sybina Y., Borgardt N., Lazarenko P., Parsegova V., Prikhodko A., Sherchenkov A.
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(Eng)
Volume 11, Nº 5 (2017)
HPHT single crystal diamond type IIB growth sector influence on the secondary electron emission phenomenon
Sadovoy V., Blank V., Teteruk D., Terentiev S., Kornilov N.
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(Eng)
Volume 13, Nº 4 (2019)
Formation of SEM Images in the Slow Secondary Electron Mode. 1. Structures with Large Side Wall Inclinations
Novikov Y.
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(Eng)
Volume 11, Nº 4 (2017)
Calibration of a scanning electron microscope from two coordinates
Novikov Y.
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(Eng)
Volume 13, Nº 2 (2019)
Simulation of the Properties of Betavoltaic Cells Based on Silicon and 63Ni Enriched Film
Polikarpov M., Yakimov E.
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(Eng)
Volume 11, Nº 1 (2017)
Using electron backscatter diffraction to investigate the influence of mechanical polishing on the state of the surface of diamond
Korostylev E., Bormashov V., Tarelkin S., Doronin M.
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(Eng)
Volume 12, Nº 6 (2018)
Test Object for SEM Calibration: 2. Correlation Analysis of SEM Signals
Novikov Y.
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(Eng)
Volume 10, Nº 6 (2016)
Estimation of the diameter of a SEM beam by video-signal curves from a trapezoidal Structure: 2. Experiment
Larionov Y.
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(Eng)
Volume 13, Nº 6 (2019)
Test Objects with a Rectangular Profile for SEM: 1. Fabrication Technology
Novikov Y.
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(Eng)
Volume 12, Nº 3 (2018)
Monte Carlo Method in Scanning Electron Microscopy. 3. Modern Condition of the Problem
Novikov Y.
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(Eng)
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