Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Том 13, № 4 (2019)
Optimization of the Electron Optical System of a Scanning Electron Microscope for Measuring the Size of Micro- and Nanoobjects
Kazmiruk V., Kurganov I., Podkopaev A., Savitskaya T.
PDF
(Eng)
Том 12, № 1 (2018)
Monte Carlo Method in Scanning Electron Microscopy. 2. Problems and Solutions
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Depth Profiling Using Reflected Electron Spectroscopy
Afanas’ev V., Bodisko Y., Gryazev A., Kaplya P., Fedorovich S.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
Monte Carlo Method in Scanning Electron Microscopy. 3. Modern Condition of the Problem
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Estimation of the SEM beam diameter by video-signal curves from a trapezoidal structure: 1. Simulation experiment
Larionov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 5 (2019)
Modification of the Nanoglobular Structure of Glassy Carbon by Heat Treatment and Ion Irradiation
Andrianova N., Borisov A., Kazakov V., Makunin A., Mashkova E., Ovchinnikov M.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Study of multilayer carbon nanotubes subjected to the impact of a nanosecond high-energy ion beam
Bolotov V., Knyazev E., Sten’kin Y., Ivlev K.
PDF
(Eng)
Том 11, № 2 (2017)
Study of the optimum conditions of a vacuum holographic microscope
Egorov N., Gileva A., Antonova L., Trofimov V., Karpov A.
PDF
(Eng)
Том 11, № 1 (2017)
Features of the crystalline state of graphite layers
Borisowskiy P., Moos E., Rudenko A.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Small-angle approximation and Oswald–Kasper–Gaukler theory of electron reflection from solids
Afanas’ev V., Kaplya P., Lisitsyna E.
PDF
(Eng)
Том 10, № 1 (2016)
Intrinsic excitation effect for the Al and Mg samples XPS analysis
Afanas’ev V., Gryazev A., Kaplya P., Andreyeva Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 5 (2019)
Electron Microscopic Study of the Influence of Annealing on Ge–Sb–Te Thin Films Obtained by Vacuum Thermal Evaporation
Sybina Y., Borgardt N., Lazarenko P., Parsegova V., Prikhodko A., Sherchenkov A.
PDF
(Eng)
Том 13, № 4 (2019)
Two-Flux Model of Charged-Particle Transport in a Condensed Material under Multiple Scattering: Average Energy Losses and Range of a Beam of Monoenergetic Electrons with Energies of 0.1 keV−1.0 MeV
Mikheev N.
PDF
(Eng)
Том 10, № 1 (2016)
Reflected electron-energy-loss spectra, differential inverse inelastic mean free paths, and angular resolved X-ray photoelectron spectra of a niobium sample
Afanas’ev V., Gryazev A., Kaplya P., Andreyeva Y., Golovina O.
PDF
(Eng)
Том 13, № 4 (2019)
Interaction of Photons with Electrons of a Metal during the Irradiation of Its Surface in Vector-Potential Space
Volobuev A., Lukachev S., Tolstonogov A., Kolomin I.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Determination of the Thickness of Nanofilms Using X-Ray Photoelectron Spectroscopy
Kaplya P., Efremenko D., Afanas’ev V.
PDF
(Eng)
Том 11, № 2 (2017)
Studying the formation of a true-secondary-electron signal in the low-voltage SEM mode
Kazmiruk V., Kurganov I., Osipov N., Podkopaev A., Savitskaya T.
PDF
(Eng)
Том 10, № 5 (2016)
Investigation of secondary-emission signal formation in the low-voltage SEM mode
Kazmiruk V., Kurganov I., Osipov N., Podkopaev A., Savitskaya T.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
Electron Diffraction Analysis of the Structure of Carbon Nanopillars along the Growth Direction
Volkov R., Borgardt N., Gromov D., Dubkov S.
PDF
(Eng)
Том 12, № 2 (2018)
Heating of a Thin Crystal Target at the Passage of High-Energy Short Electron Bunches
Babaev A., Gogolev A.
PDF
(Eng)
Том 13, № 5 (2019)
Determination of the Relative Concentration of Deuterium Implanted into Beryllium by Elastic Peak Electron Spectroscopy
Afanas’ev V., Gryazev A., Kaplya P., Köppen M., Rybakova A.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
Study of the Microstructure, Crystallographic Structure and Thermal Stability of Al–Ti–Nb Alloys Produced by Selective Electron Beam Alloying
Valkov S., Neov D., Bezdushnyi R., Beskrovnyi A., Kozlenko D., Petrov P.
PDF
(Eng)
Том 11, № 4 (2017)
Monte Carlo method in scanning electron microscopy. 1. Modeling and experiment
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 10, № 4 (2016)
Experimental determination of the energy dependence of electron inelastic mean free path in silicon oxide and silicon nitride
Garmash V., Djuzhev N., Kirilenko E., Makhiboroda M., Migunov D.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Ion energy losses during the charge-exchange process
Belkova Y., Novikov N., Teplova Y.
PDF
(Eng)
1 - 25 из 143 результатов 1 2 3 4 5 6 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».