Nanoporosity of Si (100) bars


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Si(100) samples cut from a typical bar (100 mm in diameter) prepared using industrial technology are studied. Measurements of the electron work function (EWF) show that the size effects in these samples (a reduction in thickness along with a sample’s area and the EWF) detected earlier were due to nanostructure porosity that was buried by the technological treatment of a bar’s surface. This hidden nanoporosity is assumed to be a manifestation of the secondary crystal structure.

Ключевые слова

Об авторах

N. Gerasimenko

National Research University of Electronic Technology (MIET); Lebedev Institute of Physics; National Research Tomsk State University

Email: aviary@mail.ru
Россия, Moscow, 124498; Moscow, 119991; Tomsk, 634050

D. Smirnov

National Research University of Electronic Technology (MIET); Lebedev Institute of Physics

Email: aviary@mail.ru
Россия, Moscow, 124498; Moscow, 119991

S. Novikov

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Автор, ответственный за переписку.
Email: aviary@mail.ru
Россия, Moscow, 124498

S. Timoshenkov

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Email: aviary@mail.ru
Россия, Moscow, 124498

V. Minaev

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Email: aviary@mail.ru
Россия, Moscow, 124498

E. Goryunova

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Email: aviary@mail.ru
Россия, Moscow, 124498


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах