Nanoporosity of Si (100) bars


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Si(100) samples cut from a typical bar (100 mm in diameter) prepared using industrial technology are studied. Measurements of the electron work function (EWF) show that the size effects in these samples (a reduction in thickness along with a sample’s area and the EWF) detected earlier were due to nanostructure porosity that was buried by the technological treatment of a bar’s surface. This hidden nanoporosity is assumed to be a manifestation of the secondary crystal structure.

Негізгі сөздер

Авторлар туралы

N. Gerasimenko

National Research University of Electronic Technology (MIET); Lebedev Institute of Physics; National Research Tomsk State University

Email: aviary@mail.ru
Ресей, Moscow, 124498; Moscow, 119991; Tomsk, 634050

D. Smirnov

National Research University of Electronic Technology (MIET); Lebedev Institute of Physics

Email: aviary@mail.ru
Ресей, Moscow, 124498; Moscow, 119991

S. Novikov

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: aviary@mail.ru
Ресей, Moscow, 124498

S. Timoshenkov

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Email: aviary@mail.ru
Ресей, Moscow, 124498

V. Minaev

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Email: aviary@mail.ru
Ресей, Moscow, 124498

E. Goryunova

National Research University of Electronic Technology (MIET)

Email: aviary@mail.ru
Ресей, Moscow, 124498


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>