Stabilization of Diffraction Gratings Recorded in Poly-N-epoxypropylcarbazole Films Doped
with Iodoform

S. A. Sergeev; Сергеев С. А.; S. V. Robu; Робу С. В.; A. Yu. Meshalkin; Мешалкин А. Ю.; M. S. Iovu; Йову М. С.

doi:10.31857/S0023119323030129

Стабилизация дифракционных решеток, записанных в пленках поли-N-эпоксипропилкарбазола с добавкой йодоформа

Авторы: Сергеев С.А.¹, Робу С.В.², Мешалкин А.Ю.¹, Йову М.С.¹
Учреждения:
1. Институт прикладной физики, Молдавский государственный университет
2. Молдавский государственный университет
Выпуск: Том 57, № 3 (2023)
Страницы: 224-229
Раздел: РАДИАЦИОННАЯ ХИМИЯ
URL: https://journals.rcsi.science/0023-1193/article/view/140009
DOI: https://doi.org/10.31857/S0023119323030129
EDN: https://elibrary.ru/KDYKIP
ID: 140009

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

В пленках поли-N-эпоксипропилкарбазола, содержащих 10 мас. % добавку CHI₃, проведена электронно-лучевая запись дифракционных решеток с периодом около 1 мкм при различных дозах электронного облучения. Изучалось влияние длительности хранения в темноте дифракционных решeток на их дифракционную эффективность. Наблюдалось пострадиационное возрастание дифракционной эффективности решеток, записанных при сравнительно низких дозах электронного облучения. Стабилизация значений дифракционной эффективности происходила примерно на шестой день после записи дифракционных решеток.

Ключевые слова

пленки поли-N-эпоксипропилкарбазола, электронно-лучевая запись, дифракционная решетка, дифракционная эффективность

Список литературы

Александрова Е.Л. // Физика и техника полупроводников. 2004. Т. 38. № 10. С. 1153.
Grazulevicius J.V., Strohriegl P., Pielichowski J., Pielichowski K. // Prog. Polym. Sci. 2003. V. 28. P. 1297.
Алешин А.Н., Александрова Е.Л., Щербаков И.П. // Физика твердого тела. 2008. Т. 50. № 5. С. 931.
Ундзенас А.И., Герт Е.В. // Высокомолекулярные соединения. 1983. Т. (А) XXV. № 5. С. 984.
Кувшинский H.Г., Давиденко H.А., Комко В.М. // Физика аморфных молекулярных полупроводников. Киев: Лыбидь, 1994. 176 с.
Давиденко Н.А., Ищенко А.А., Костенко Л.И., Кувшинский Н.Г., Кулинич А.В., Меленевский Д.А., Мысык Д.Д., Мысык Р.Д., Павлов В.А., Чуприна Н.Г. // Химия высоких энергий. 2005. Т. 39. № 4. С. 297.
Колнинов О.В., Милинчук В.К., Струков Е.Г., Колесникова В.В. // Высокомолекулярные соединения. 1980. Т. (А) 22. № 9. С. 2042.
Колнинов О.В., Милинчук В.К., Колесникова В.В. // Высокомолекулярные соединения. 1990. Т. (А) 32. № 3. С. 473.
Колнинов О.В., Колесникова В.В., Красавина Т.А., Милинчук В.К. // Высокомолекулярные соединения. 1990. Т. (А) 32. № 10. С. 2192.
Колнинов О.В., Красавина Т.А., Колесникова В.В., Милинчук В.К., Комаров А.Н, Цышкова Н.Г., Трофимов Ф.А. // Журн. научной и прикладной фотографии. 1994. Т. 39. № 1. С. 23.
Chilat E., Bodin A., Chambon S., Frezet L., Rivaton A., Robu S., Bolte M., Mailhot B. // Proc. of SPIE. 2007. V. 6657. P. 66570A-1.
Bivol V.V., Robu S.V., Prisacari A.M., Meshalkin A.Yu., Vlad L.A., Karaman M.I. // High Energy Chemistry. 2006.V. 40. № 3. P. 178.
Акимова Е.А., Стронский А.В., Паюк А.П., Мешалкин А.Ю., Бояринов Ю.Ю., Присакарь А.М., Робу С.В., Олексенко П.Ф., Литвин О.С. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2014. № 49. С. 31.
Mahilny U.V., Marmysh D. N., Tolstik A. L., Matusevich V., Kowarschik R. // J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2008. V. 10. № 8. 085302.
Борн М., Вольф Э. Основы оптики. Изд. 2-е. М.: Наука, 1973. 720 с.
Veniaminov A.V., Goncharov V.F., Popov A.P. // Opt. Spectrosc. 1991. V. 70. № 4. P. 505.
Вениаминов А.В., Седунов Ю.Н. // Высокомолекулярные соединения. Серия А. 1996. Т. 38. № 1. С. 71.
Veniaminov A. V. Bandyuk O.V., Andreeva O.V. // J. Opt. Technol. 2008. V. 75. № 5. P. 306.
Steckman G.J., Solomatine I., Zhou G., Psaltis D. // Optics Letters. 1998. V. 23. № 16. P. 1319.
Steckman G.J., Shelkovnikov V., Berezhnaya V., Gerasimova T., Solomatine I., Psaltis D. // Optics Letters. 2000. V. 25. № 9. P. 607.