Stabilization of Diffraction Gratings Recorded in Poly-N-epoxypropylcarbazole Films Doped
with Iodoform

S. A. Sergeev; Сергеев С. А.; S. V. Robu; Робу С. В.; A. Yu. Meshalkin; Мешалкин А. Ю.; M. S. Iovu; Йову М. С.

doi:10.31857/S0023119323030129

Stabilization of Diffraction Gratings Recorded in Poly-N-epoxypropylcarbazole Films Doped with Iodoform

Authors: Sergeev S.A.¹, Robu S.V.², Meshalkin A.Y.¹, Iovu M.S.¹
Affiliations:
1. Institute of Applied Physics, State University of Moldova
2. State University of Moldova
Issue: Vol 57, No 3 (2023)
Pages: 224-229
Section: РАДИАЦИОННАЯ ХИМИЯ
URL: https://journals.rcsi.science/0023-1193/article/view/140009
DOI: https://doi.org/10.31857/S0023119323030129
EDN: https://elibrary.ru/KDYKIP
ID: 140009

Cite item

Full Text

Open Access
Restricted Access

Access granted
Restricted Access

Subscription Access

Abstract
About the authors
References
Supplementary files
Statistics

Abstract

In poly-N-epoxypropylcarbazole films containing 10 wt % CHI3 as an additive, diffraction gratings with a period of about 1 μm have been recorded by electron-beam irradiation at various radiation doses. The influence of the duration of storage in the dark of diffraction gratings on their diffraction efficiency has been examined. A postradiation increase in the diffraction efficiency of gratings recorded at relatively low electron radiation doses was observed. The diffraction efficiency values stabilized approximately on the sixth day after
recording the diffraction gratings.

Keywords

poly-N-epoxypropylcarbazole films, electron beam recording, diffraction grating, diffraction efficiency

References

Александрова Е.Л. // Физика и техника полупроводников. 2004. Т. 38. № 10. С. 1153.
Grazulevicius J.V., Strohriegl P., Pielichowski J., Pielichowski K. // Prog. Polym. Sci. 2003. V. 28. P. 1297.
Алешин А.Н., Александрова Е.Л., Щербаков И.П. // Физика твердого тела. 2008. Т. 50. № 5. С. 931.
Ундзенас А.И., Герт Е.В. // Высокомолекулярные соединения. 1983. Т. (А) XXV. № 5. С. 984.
Кувшинский H.Г., Давиденко H.А., Комко В.М. // Физика аморфных молекулярных полупроводников. Киев: Лыбидь, 1994. 176 с.
Давиденко Н.А., Ищенко А.А., Костенко Л.И., Кувшинский Н.Г., Кулинич А.В., Меленевский Д.А., Мысык Д.Д., Мысык Р.Д., Павлов В.А., Чуприна Н.Г. // Химия высоких энергий. 2005. Т. 39. № 4. С. 297.
Колнинов О.В., Милинчук В.К., Струков Е.Г., Колесникова В.В. // Высокомолекулярные соединения. 1980. Т. (А) 22. № 9. С. 2042.
Колнинов О.В., Милинчук В.К., Колесникова В.В. // Высокомолекулярные соединения. 1990. Т. (А) 32. № 3. С. 473.
Колнинов О.В., Колесникова В.В., Красавина Т.А., Милинчук В.К. // Высокомолекулярные соединения. 1990. Т. (А) 32. № 10. С. 2192.
Колнинов О.В., Красавина Т.А., Колесникова В.В., Милинчук В.К., Комаров А.Н, Цышкова Н.Г., Трофимов Ф.А. // Журн. научной и прикладной фотографии. 1994. Т. 39. № 1. С. 23.
Chilat E., Bodin A., Chambon S., Frezet L., Rivaton A., Robu S., Bolte M., Mailhot B. // Proc. of SPIE. 2007. V. 6657. P. 66570A-1.
Bivol V.V., Robu S.V., Prisacari A.M., Meshalkin A.Yu., Vlad L.A., Karaman M.I. // High Energy Chemistry. 2006.V. 40. № 3. P. 178.
Акимова Е.А., Стронский А.В., Паюк А.П., Мешалкин А.Ю., Бояринов Ю.Ю., Присакарь А.М., Робу С.В., Олексенко П.Ф., Литвин О.С. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2014. № 49. С. 31.
Mahilny U.V., Marmysh D. N., Tolstik A. L., Matusevich V., Kowarschik R. // J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2008. V. 10. № 8. 085302.
Борн М., Вольф Э. Основы оптики. Изд. 2-е. М.: Наука, 1973. 720 с.
Veniaminov A.V., Goncharov V.F., Popov A.P. // Opt. Spectrosc. 1991. V. 70. № 4. P. 505.
Вениаминов А.В., Седунов Ю.Н. // Высокомолекулярные соединения. Серия А. 1996. Т. 38. № 1. С. 71.
Veniaminov A. V. Bandyuk O.V., Andreeva O.V. // J. Opt. Technol. 2008. V. 75. № 5. P. 306.
Steckman G.J., Solomatine I., Zhou G., Psaltis D. // Optics Letters. 1998. V. 23. № 16. P. 1319.
Steckman G.J., Shelkovnikov V., Berezhnaya V., Gerasimova T., Solomatine I., Psaltis D. // Optics Letters. 2000. V. 25. № 9. P. 607.