Ohmic Contacts to Europium Oxide for Spintronic Devices


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A technique for in situ fabrication of aluminum-based Ohmic contacts to EuO by molecular-beam epitaxy is proposed. These contacts have a linear current–voltage curve and a contact resistance of 0.55 Ω mm and are stable in air. This suggests that the proposed technique holds promise for spintronic applications.

Об авторах

A. Andreev

National Research Center Kurchatov Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: andreev_aa@nrcki.ru
Россия, Moscow, 123182

Yu. Grishchenko

National Research Center Kurchatov Institute

Email: andreev_aa@nrcki.ru
Россия, Moscow, 123182

I. Chernykh

National Research Center Kurchatov Institute

Email: andreev_aa@nrcki.ru
Россия, Moscow, 123182

M. Zanaveskin

National Research Center Kurchatov Institute

Email: andreev_aa@nrcki.ru
Россия, Moscow, 123182

E. Lobanovich

National Research Center Kurchatov Institute

Email: andreev_aa@nrcki.ru
Россия, Moscow, 123182


© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах