Technical Physics
ISSN 1063-7842 (Print)
ISSN 1090-6525 (Online)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Архив
Контакты
Все журналы
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
по разделам
другие журналы
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
Barrier Discharge
Circular Polarization
Coherent Scattering Region
Differential Scanning Calorimetry
Electric Discharge
Electric Field Strength
Electron Diffraction Pattern
Excited Mode
External Electric Field
Ferrite
Inelastic Energy Loss
Ionization Cross Section
Magnetron Discharge
Martensite
Percolation Threshold
Plasma Channel
Spend Nuclear Fuel
Surface Relief
Technical Physic
Thermal Conductivity
Transmission Coefficient
Информация
Для читателей
Авторам
Для библиотек
×
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
по разделам
другие журналы
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
Barrier Discharge
Circular Polarization
Coherent Scattering Region
Differential Scanning Calorimetry
Electric Discharge
Electric Field Strength
Electron Diffraction Pattern
Excited Mode
External Electric Field
Ferrite
Inelastic Energy Loss
Ionization Cross Section
Magnetron Discharge
Martensite
Percolation Threshold
Plasma Channel
Spend Nuclear Fuel
Surface Relief
Technical Physic
Thermal Conductivity
Transmission Coefficient
Информация
Для читателей
Авторам
Для библиотек
Главная
>
Поиск
>
Информация об авторе
Информация об авторе
Chkhalo, N.
Выпуск
Раздел
Название
Файл
Том 63, № 10 (2018)
Optics
Absolutely Calibrated Spectrally Resolved Measurements of Xe Laser Plasma Radiation Intensity in the EUV Range
Том 64, № 11 (2019)
Article
Simulation of Local Error Correction of the Surface Shape by a Low-Dimensional Ion Beam
Том 64, № 11 (2019)
Article
Emission Properties of Laser Plasma Excited on Molecular-Cluster Carbon Dioxide Jets
Том 64, № 11 (2019)
Article
Optical, Mechanical, and Thermal Properties of Free-Standing MoSi
2
N
x
and ZrSi
2
N
y
Nanocomposite Films
Том 64, № 11 (2019)
Article
Beryllium as a Material for Thermally Stable X-Ray Mirrors
Том 64, № 11 (2019)
Article
Optimization of Composition, Synthesis, and Study of Broadband Multilayer Mirrors for the EUV Spectral Range
Том 64, № 11 (2019)
Article
Fabrication and Study of a Concave Crystal Mirror for the KORTES Project
Том 64, № 11 (2019)
Article
Multilayer Ag/Y Mirrors for the Spectral Range of 9–11 nm
Том 64, № 11 (2019)
Article
Influence of Beryllium Barrier Layers on the Properties of Mo/Si Multilayer Mirrors
Том 64, № 11 (2019)
Article
Influence of Thermal Annealing on the Properties of Multilayer Mo/Be Mirrors
Том 64, № 11 (2019)
Article
Measurement Error of Interferometers with Diffraction Reference Wave
Том 64, № 12 (2019)
23rd INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOPHYSICS AND NANOELECTRONICS,” Nizhny Novgorod, March 11–14, 2019
Development of Technological Principles for Creating a System of Microfocus X-Ray Tubes Based on Silicon Field Emission Nanocathodes
Данный сайт использует cookie-файлы
Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.
О куки-файлах
TOP