Technical Physics
ISSN 1063-7842 (Print)
ISSN 1090-6525 (Online)
Мәзір
Мұрағат
Бастапқы
Журнал туралы
Редакция тобы
Редакция саясаты
Авторларға арналған ережелер
Журнал туралы
Шығарылымдар
Іздеу
Ағымдағы шығарылым
Мұрағат
Байланыс
Барлық журналдар
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
авторлар
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
Barrier Discharge
Circular Polarization
Coherent Scattering Region
Differential Scanning Calorimetry
Electric Discharge
Electric Field Strength
Electron Diffraction Pattern
Excited Mode
External Electric Field
Ferrite
Inelastic Energy Loss
Ionization Cross Section
Magnetron Discharge
Martensite
Percolation Threshold
Plasma Channel
Spend Nuclear Fuel
Surface Relief
Technical Physic
Thermal Conductivity
Transmission Coefficient
Ақпарат
Оқырмандар үшін
Авторларға
Кітапханалар үшін
×
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
авторлар
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
Barrier Discharge
Circular Polarization
Coherent Scattering Region
Differential Scanning Calorimetry
Electric Discharge
Electric Field Strength
Electron Diffraction Pattern
Excited Mode
External Electric Field
Ferrite
Inelastic Energy Loss
Ionization Cross Section
Magnetron Discharge
Martensite
Percolation Threshold
Plasma Channel
Spend Nuclear Fuel
Surface Relief
Technical Physic
Thermal Conductivity
Transmission Coefficient
Ақпарат
Оқырмандар үшін
Авторларға
Кітапханалар үшін
Бастапқы
>
Іздеу
>
Автор туралы ақпарат
Автор туралы ақпарат
Chkhalo, N.
Шығарылым
Бөлім
Атауы
Файл
Том 63, № 10 (2018)
Optics
Absolutely Calibrated Spectrally Resolved Measurements of Xe Laser Plasma Radiation Intensity in the EUV Range
Том 64, № 11 (2019)
Article
Simulation of Local Error Correction of the Surface Shape by a Low-Dimensional Ion Beam
Том 64, № 11 (2019)
Article
Emission Properties of Laser Plasma Excited on Molecular-Cluster Carbon Dioxide Jets
Том 64, № 11 (2019)
Article
Optical, Mechanical, and Thermal Properties of Free-Standing MoSi
2
N
x
and ZrSi
2
N
y
Nanocomposite Films
Том 64, № 11 (2019)
Article
Beryllium as a Material for Thermally Stable X-Ray Mirrors
Том 64, № 11 (2019)
Article
Optimization of Composition, Synthesis, and Study of Broadband Multilayer Mirrors for the EUV Spectral Range
Том 64, № 11 (2019)
Article
Fabrication and Study of a Concave Crystal Mirror for the KORTES Project
Том 64, № 11 (2019)
Article
Multilayer Ag/Y Mirrors for the Spectral Range of 9–11 nm
Том 64, № 11 (2019)
Article
Influence of Beryllium Barrier Layers on the Properties of Mo/Si Multilayer Mirrors
Том 64, № 11 (2019)
Article
Influence of Thermal Annealing on the Properties of Multilayer Mo/Be Mirrors
Том 64, № 11 (2019)
Article
Measurement Error of Interferometers with Diffraction Reference Wave
Том 64, № 12 (2019)
23rd INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOPHYSICS AND NANOELECTRONICS,” Nizhny Novgorod, March 11–14, 2019
Development of Technological Principles for Creating a System of Microfocus X-Ray Tubes Based on Silicon Field Emission Nanocathodes
Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады
Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>
cookie файлдары туралы< / a>
TOP