Dynamics of the Accumulation of Excess Holes in n-AlGaAs/GaAs Heterostructure Quantum Wells


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The effect of the excess hole capture efficiency on carrier accumulation with increasing photoexcitation in quantum wells of the n-AlGaAs/GaAs heterostructures is investigated. The oscillatory character of the dependence of the ratio between the intensities of photoluminescence from the quantum well and barrier layers on the well width is demonstrated. The hole capture times in the oscillation maximum and minimum are estimated as 3 and 370 ps. The shift of the energy transition in a resonant well under strong excitation is attributed to the charge buildup effect caused by the difference between the electron and hole capture rates.

Авторлар туралы

N. Yaremenko

Kotel’nikov Institute of Radio Engineering and Electronics, Fryazino Branch

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: tg275@ms.ire.rssi.ru
Ресей, Moscow oblast, Fryazino

V. Strakhov

Kotel’nikov Institute of Radio Engineering and Electronics, Fryazino Branch

Email: tg275@ms.ire.rssi.ru
Ресей, Moscow oblast, Fryazino

M. Karachevtseva

Kotel’nikov Institute of Radio Engineering and Electronics, Fryazino Branch

Email: tg275@ms.ire.rssi.ru
Ресей, Moscow oblast, Fryazino

Yu. Fedorov

Institute of Microwave Semiconductor Electronics

Email: tg275@ms.ire.rssi.ru
Ресей, Moscow


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>