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Russian Microelectronics
ISSN 1063-7397 (Print) ISSN 1608-3415 (Online)
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Palavras-chave ADC DAC GaAs MIS varicap RUSSIAN Microelectronics atomic force microscopy compaction in a magnetic field ferroelectrics gallium arsenide gallium nitride heterostructure heterostructures interface leakage current magnetic texture phase shifter porous silicon recrystallization silicon carbide varicap zirconia
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Informaçao sobre o Autor

Bogdanov, Yu. I.

Edição Seção Título Arquivo
Volume 45, Nº 5 (2016) Article Schmidt decomposition and analysis of statistical correlations
Volume 46, Nº 6 (2017) Article Statistical Models and Adequacy Validation for Optical Quantum State Tomography with Quadrature Measurements
 

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