Исследование влияния дефокусировки на интерференционных картинах, полученных в рентгеновских трехблочных интерферометрах
- Авторы: Дрмеян Г.Р.1, Василян М.С.1
-
Учреждения:
- Институт прикладных проблем физики НАН РА
- Выпуск: № 2 (2024)
- Страницы: 101-107
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rcsi.science/1028-0960/article/view/257521
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096024020154
- EDN: https://elibrary.ru/ATBVWI
- ID: 257521
Цитировать
Аннотация
Представлены результаты исследования влияния дефокусировки на интерференционных картинах, полученных в рентгеновских трехблочных интерферометрах. Сконструированы, изготовлены и опробованы трехблочные дефокусированные интерферометры без толстого блок-анализатора, с толстым блок-анализатором и с отдельным толстым блоком (увеличителем). Показано, что тонкие структуры интерференционных картин, полученные от трехблочных дефокусированных интерферометров, наблюдаются в тех случаях, когда блок-анализатор интерферометра толстый или применяется увеличитель (четвертый толстый блок). В ходе теоретических расчетов показано, что при наличии дефокусировки в результате наложения пучков на входной поверхности анализатора интерферометра формируется интерференционная картина в виде параллельных полос (линий), лежащих в плоскости рассеяния. Вычислены координаты максимумов интерференционных полос (линий) и период полос в случаях без толстого кристалла и при его наличии, а также собственный коэффициент увеличения. Экспериментально доказано, что толстый кристалл (кристалл-увеличитель) новой информации в интерференционную картину не вносит, а только увеличивает ее размеры в плоскости рассеяния.
Ключевые слова
Об авторах
Г. Р. Дрмеян
Институт прикладных проблем физики НАН РА
Автор, ответственный за переписку.
Email: drm-henrik@mail.ru
Армения, Ереван
М. С. Василян
Институт прикладных проблем физики НАН РА
Email: drm-henrik@mail.ru
Россия, Ереван
Список литературы
- Бушуев В.А., Ингал В.Н., Белявская Е.А. // Кристаллография. 1996. Т. 41. № 5. С. 808.
- Аладжаджян Г.М., Кочарян А.К., Труни К.Г. // Кристаллография 1979. Т. 24. С. 1135.
- Bushuev V.A., Sergeev A.A. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron, Neutron Tech. 2001. V. 16. P. 1429.
- Bezirganyan P.H., Drmeyan H.R., Aladzhadzhyan G.M. // Phys. Stat. Sol. A. 1979. V. 54. P. 729.
- Bonse U., te Kaat E. // Z. Physik. 1971. V. 243. P. 14. https://doi.org/10.1007/BF01401026
- Drmeyan H.R., Bezirganyan P.H. // Phys. Stat. Sol. A. 1985. V. 91. P. 379.
- Eyramjyan T.H., Mnatsakanyan T.S., Balyan M.K. // Acta Crystallogr. A. 2018. V. 74. P. 595. https://doi.org/10.1107/S2053273318009889
- Bonse U., Graeff W. // Topics Appl. Phys. 1977. V. 22. P. 93. https://www.amazon.com/X–Ray–Optics–Appli-cations–Applied–Physics/dp/3662309130?asin=3662309130&revisionId=&format=4&depth=1
- Petraschek D., Folk R. // Phis. Stat. Sol. A. 1976. V. 36. P. 147.
- Bonse U., Hart M. // Z. Physik. 1965. V. 188. P. 154. https://doi.org/10.1007/BF01339402
- Gasparyan L.G., Bezirganyan P.H., Mkrtchyan V.P., Trouni K.G., Toneyan A.G. // Phys. Stat. Sol. A. 1991. V. 123. Iss. 1. P. 77. https://doi.org/10.1002/pssa.2211230106
- Su R., Thomas M., Leach R., Coupland J. // Optics Lett. 2018. V. 43. Iss. 1. P. 82. https://doi.org/10.1364/OL.43.000082
- Shvyd’ko Yu.V., Lerche M., Wille H.-C., Gerdau E., Lucht M., Ruter H.D. // Phys. Rev. Lett. 2003. V. 90. P. 014302. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.90.013904
- Sasso C.P., Manaa G., Massaa E. // J. Appl. Crystallogr. 2021. V. 54. P. 1403. https://doi.org/10.1107/S1600576721007962
- Momose A. // Opt. Express. 2003. V. 11. № 19. P. 2303. https://doi.org/10.1364/OE.11.002303
- Lwin T.-T., Yoneyama A., Maruyama H., Takeda T. // Technol. Cancer Res. Treatment. 2021. V. 20. P. 1. https://doi.org/10.1177/15330338211010121
- Lider V.V. // Phys. Solid State. 2021. V. 63. № 2. P. 189. https://doi.org/10.1134/S1063783421020141
- Nsofini J., Sarenac D., Cory D.G., Pushin D.A. // Phys. Rev. A. 2019. V. 99. P. 043614. https://doi.org/10.1103/PhysRevA.99.043614
- Chistiakov S.G., Filatov N.A., Kocharyan V.R., Gogolev A.S., Rukavishnikov V.S. // J. Contemporary Phys. (Armenian Academy of Sciences). 2019. V 54. P. 381. https://doi.org/10.3103/S106833721904008X
- A.с. 720349 (СССР). Способ дифракционной микрорентгенографии. / Ереванский государственный университет. Безирганян П.А., Дрмеян Г.Р., Эйрамджян Ф.О. // Б.И. 1980. № 9.
- A.с. 720350 (СССР). Рентгеновский интерферометр. / Ереванский государственный университет. Безирганян П.А., Дрмеян Г.Р., Эйрамджян Ф.О. // Б.И. 1980. № 9.
- А.с. 817552 (СССР). Способ дифракционной микрорентгенографии монокристаллов. / Ереванский государственный университет. Безирганян П.А., Дрмеян Г.Р. // Б.И. 1981. № 12.
- Дрмеян Г.Р. // Изв. НАН Армении и ГИУ Армении. 2003. Т. 56. № 3. С. 394.
- Drmeyan H.R. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2022. V. 16. № 4. Р. 647. https://doi.org/10.1134/S1027451022040255
- Authier A. // Acta Geologica et Geografhica Universitatis Comenianae: Geologica. 1968. V. 14. P. 37.
- Takagi S. // Acta Crystallogr. 1962. V. 15. P. 1311. https://doi.org/10.1107/S0365110X62003473
- Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970. 721 с.
- Свешников А.Г., Тихонов А.Н. Теория функции комплексной переменной. М.: Наука, 1967. 321 с.