Estimation of internal charging potential of dielectrics coated with conductive film

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The charging potentials of quartz glass coated with a conductive metallic film was evaluated. Estimations were made based on the measured dependence of the intensity of the cathodoluminescent signal on the energy of the incident electron beam. Calculations have shown that when quartz glass coated with a 14 nm thick Au film is irradiated, the charging potential can reach 1.7 kV at an electron energy of 10 keV and 2.7 kV at 15 keV. An estimation of the electric field generating under the surface of the grounded film has shown that the field strength does not exceed 4 × 107 V/cm.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

N. Orlikovskaya

Lomonosov Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: orlikovskayang@gmail.com
Ресей, Moscow, 119991

E. Zykova

Lomonosov Moscow State University

Email: orlikovskayang@gmail.com
Ресей, Moscow, 119991

A. Tatarintsev

Lomonosov Moscow State University

Email: orlikovskayang@gmail.com
Ресей, Moscow, 119991

Әдебиет тізімі

  1. Петров В.И. // Успехи физических наук. 1996. Т. 166. С. 859.
  2. Melchinger A., Hofmann S. // J. Appl. Phys. 1995. V. 78. P. 6224. https://doi.org/10.1063/1.360569
  3. Cazaux J. // J. Appl. Phys. 2001. V. 89. P. 8265. https://doi.org/10.1063/1.1368867
  4. Cornet N., Goeuriot D., Guerret-Piécourt C., Juv́ D., Tŕheux D., Touzin M., Fitting H.J. // J. Appl. Phys. 2008. V. 103. Р. 064110. https://doi.org/10.1063/1.2890427
  5. Askri B., Raouadi K., Renoud R., Yangui B. // J. Electrostat. 2009. V. 67. P. 695. https://doi.org/10.1016/j.elstat.2009.03.006
  6. Рау Э.И., Татаринцев А.А. // Физика твердого тела. 2021. Т. 63. С. 483. https://doi.org/10.21883/FTT.2021.04.50713.246
  7. Cazaux J. // J. Appl. Phys. 1986. V. 59. P. 1418. https://doi.org/10.1063/1.336493
  8. Cazaux J. // Scanning. 2004. V. 26. P. 181. https://doi.org/10.1002/sca.4950260406
  9. Meyza X., Goeuriot D., Guerret-Piécourt C., Tréheux D., Fitting H.J. // J. Appl. Phys. 2003. V. 94. P. 5384. https://doi.org/10.1063/1.1613807
  10. Touzin M., Goeuriot D., Guerret-Piécourt C., Juv́ D., Tŕheux D., Fitting H.J. // J. Appl. Phys. 2006. V. 99. Р. 114110. https://doi.org/10.1063/1.2201851
  11. Татаринцев А.А., Зыкова Е.Ю., Иешкин А.Е., Орликовская Н.Г., Рау Э.И. // Физика твердого тела. 2023. Т. 65. С. 1288. https://doi.org/10.21883/ftt.2023.08.56145.79
  12. Ohya K., Inai K., Kuwada H., Hayashi T., Saito M. // Surf. Coatings Technol. 2008. V. 202. P. 5310. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2008.06.008
  13. Cazaux J. // J. Electron Spectr. Relat. Phenomena. 2010. V. 176. P. 58. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2009.06.004
  14. Орехова К.Н., Серов Ю.М., Дементьев П.А., Иванова Е.В., Кравец В.А., Усачева В.П., Заморянская М.В. // Журнал технической физики. 2019. Т. 89. С. 1412. https://doi.org/10.21883/jtf.2019.09.48068.43-19
  15. Рау Э.И., Татаринцев А.А., Зыкова Е.Ю., Зайцев С.В. // Журнал технической физики. 2019. Т. 89. С. 1276. https://doi.org/10.21883/jtf.2019.08.47904.264-18
  16. Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Татаринцев А.А., Хайдаров А.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2016. Т. 80. С. 1623. https://doi.org/10.7868/s0367676516120206
  17. Fitting H.J. // J. Electron Spectr. Relat. Phenomena. 2004. V. 136. P. 265. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2004.04.003
  18. Phillips M.R. // Microchim. Acta. 2006. V. 155. P. 51. https://doi.org/10.1007/s00604-006-0506-0
  19. Кузнецова Я.В. Особенности катодолюминесценции полупроводниковых структур на основе AlInGaN: Дис. … канд. физ.-мат. наук: 01.04.10. Санкт-Петербург: ФТИ, 2013.
  20. Гареева А.Р., Петров В.И., Чижов Г.А. // Вестн. МГУ. Сер. 3. 1989. Т. 30. С. 23.
  21. Михеев Н.Н., Петров В.И., Степович М.А. // Изв. АНаук СССР. Сер. физ. 1991. Т. 55. С. 1474.
  22. August H., Wernisch J. // Phys. Stat. Sol. 1989. V. 114. P. 629.
  23. Hunger H.-J., Kuchler L. // Phys. Stat. Sol. 1979. V. 56. P. 45.
  24. Drouin D., Couture A.R., Joly D., Tastet X., Aimez V., Gauvin R. // Scanning. 2007. V. 29. P. 92. https://doi.org/10.1002/sca.20000
  25. Рау Э.И., Евстафьева Е.Н., Зайцев С.И., Князев М.А., Свинцов А.А., Татаринцев А.А. // Микроэлектроника. 2013. Т. 42. С. 116. https://doi.org/10.7868/s0544126913020105
  26. Kotera M., Suga H. // J. Appl. Phys. 1988. V. 63. P. 261. https://doi.org/10.1063/1.340285
  27. Сканави Г.И. Физика диэлектриков (область сильных полей). М.: ГИФМЛ, 1958. 907 с.
  28. Франц В. Пробой диэлектриков. М.: ИЛ, 1961. 207 с.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. Dependence of the intensity of the cathodoluminescence signal ICL of quartz glass (1), glass coated with a gold film (2), and the charging potential VS of quartz (3) on the time of irradiation with electrons with an energy of E0 = 10 (a) and 15 keV (b), and a current density of j0 = 10–5 A/cm2.

Жүктеу (25KB)
Метадеректер
3. Fig. 2. The change in the interaction region in quartz glass calculated using the Casino v2.5 program when the energy of the electron probe changes from 8.4 (A) to 6.7 keV (B) due to charging.

Жүктеу (26KB)
Метадеректер
4. Fig. 3. Calculated dependences of the potential V (1, 2) and the electric field strength Ein (3, 4) in quartz glass on the depth z at E0 = 10 (1, 3) and 15 keV (2, 4).

Жүктеу (15KB)
Метадеректер

© Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».