On the creation of ordered nuclei by ion bombardment for obtaining nanoscale si structures on the surface of CaF2 films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The effect of preliminary low-energy (~1 keV) and low-dose (~1012–1014 cm–2) ion bombardment on the initial stages of growth of Si films on a CaF2/Si surface is investigated. Ordered nanocrystal phases (thickness less than 5–6 monolayers) and homogeneous epitaxial nanofilms (thickness more than 8–10 monolayers) of silicon are shown to be formed after annealing.

Авторлар туралы

B. Umirzakov

Tashkent State Technical University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: ftmet@rambler.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100095

S. Donaev

Tashkent State Technical University

Email: ftmet@rambler.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100095

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017