Application of Ion-Beam Treatment in the Process of the Magnetron Deposition of Thin SnO2 Films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The effect of accompanying ion-beam treatment on the structure and properties of SnO2 films synthesized by the method of high-frequency magnetron sputtering at room temperature and at 200°C is investigated. It is established that ion-beam processing does not affect the transparency and the band gap of the obtained tin-oxide films. The refractive index and resistivity change. At room temperature, the films are X‑ray amorphous, and at 200°C they are polycrystalline. X-ray diffraction and electron diffraction studies show the presence of a single phase of SnO2. Ion-beam treatment leads to a change in the preferred orientation of the crystallites. With increasing current of ion-beam processing, the grain sizes decrease.

Авторлар туралы

A. Alalykin

Udmurt State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: alalykin@udsu.ru
Ресей, Izhevsk, 426034

P. Krylov

Udmurt State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: ftt@udsu.ru
Ресей, Izhevsk, 426034

R. Zakirova

Udmurt State University

Email: alalykin@udsu.ru
Ресей, Izhevsk, 426034

I. Fedotova

Udmurt State University

Email: alalykin@udsu.ru
Ресей, Izhevsk, 426034

N. Kostenkov

Udmurt State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: alalykin@udsu.ru
Ресей, Izhevsk, 426034

E. Durman

Udmurt State University

Email: alalykin@udsu.ru
Ресей, Izhevsk, 426034

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019