Thermal stability, structure and phase composition of Nix(NbO)100–x composites


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The influence of heat treatment on the structure and electrical properties of Nix(NbO)100–x thin films obtained by the ion-beam sputtering of a composite target is investigated. The composite structure is found to be formed during the deposition of Ni–NbO films and to contain a mixture of nanoscale face-centered cubic (fcc) Ni grains and amorphous niobium oxide. Annealing at 550°C leads to the crystallization of amorphous niobium oxide; however, the heterogeneity and nanoscale structure of composites are maintained.

Негізгі сөздер

Авторлар туралы

K. Semenenko

Voronezh State University of Technology

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: konst1990i@yandex.ru
Ресей, Voronezh, 394026

M. Kashirin

Voronezh State University of Technology

Email: konst1990i@yandex.ru
Ресей, Voronezh, 394026

O. Stognei

Voronezh State University of Technology

Email: konst1990i@yandex.ru
Ресей, Voronezh, 394026

A. Al-Maliki

Voronezh State University of Technology

Email: konst1990i@yandex.ru
Ресей, Voronezh, 394026

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016