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卷 12, 编号 6 (2018)
Synthesis of Rhenium-Silicide Microcrystals in a Tin Melt
Solomkin F., Orekhov A., Sharenkova N., Khavrov G., Isachenko G., Zaitseva N., Klechkovskaya V.
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卷 10, 编号 3 (2016)
High-resolution X-ray diffractometry and transmission electron microscopy as applied to the structural study of InAlAs/InGaAs/InAlAs multilayer transistor nanoheterostructures
Galiev G., Klimov E., Imamov R., Ganin G., Pushkarev S., Maltsev P., Zhigalina O., Orekhov A., Vasil’ev A., Presniakov M., Trunkin I.
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卷 12, 编号 3 (2018)
X-Ray Diffraction Analysis of the Influence of the Absorbed γ-Irradiation Dose on Ti3Al Structural Characteristics
Loginova M., Yakovlev V., Sitnikov A., Filimonov V., Sobachkin A., Gradoboev A.
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