Пайдаланушы

Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?	Тіркеу

Хабарламалар

• Қарау
• Тіркелу

Іздеу

Іздеу

Іздеу аумағы Барлығы Авторлар Атауы Түйіндеме Терминдер Толық мәтін

Парақтау

• шығарылымдар
• авторлар
• атаулары бойынша
• бөлімдер бойынша
• басқа журналдар

Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз

Кілтсөздер Raman spectroscopy X-ray diffraction X-ray photoelectron spectroscopy atomic force microscopy atomic-force microscopy channeling ion implantation magnetron sputtering microhardness microstructure neutron diffraction scanning electron microscope scanning electron microscopy silicon simulation small-angle neutron scattering structure surface surface morphology synchrotron radiation thin films

Ақпарат

• Оқырмандар үшін
• Авторларға
• Кітапханалар үшін