Comparison of Algorithms for Determining the Thickness of Optical Coatings Online


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Resumo

The basic algorithms for determining the thicknesses of layers of deposited multilayer optical coatings are discussed and compared. Using a series of model numerical experiments, the advantage of one of these algorithms—the modified T-algorithm—is demonstrated; this algorithm reduces the influence of the effect of error accumulation in the determined thicknesses of layers.

Sobre autores

T. Isaev

Faculty of Physics, Moscow State University

Autor responsável pela correspondência
Email: temurisaev@gmail.com
Rússia, Moscow, 119992

I. Kochikov

Research Computer Center, Moscow State University

Autor responsável pela correspondência
Email: igor@kochikov.ru
Rússia, Moscow, 119992

D. Lukyanenko

Faculty of Physics, Moscow State University

Autor responsável pela correspondência
Email: lukyanenko@physics.msu.ru
Rússia, Moscow, 119992

A. Tikhonravov

Research Computer Center, Moscow State University

Autor responsável pela correspondência
Email: tikh@srcc.msu.ru
Rússia, Moscow, 119992

A. Yagola

Faculty of Physics, Moscow State University

Autor responsável pela correspondência
Email: yagola@physics.msu.ru
Rússia, Moscow, 119992

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