Comparison of Algorithms for Determining the Thickness of Optical Coatings Online


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The basic algorithms for determining the thicknesses of layers of deposited multilayer optical coatings are discussed and compared. Using a series of model numerical experiments, the advantage of one of these algorithms—the modified T-algorithm—is demonstrated; this algorithm reduces the influence of the effect of error accumulation in the determined thicknesses of layers.

Авторлар туралы

T. Isaev

Faculty of Physics, Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: temurisaev@gmail.com
Ресей, Moscow, 119992

I. Kochikov

Research Computer Center, Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: igor@kochikov.ru
Ресей, Moscow, 119992

D. Lukyanenko

Faculty of Physics, Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: lukyanenko@physics.msu.ru
Ресей, Moscow, 119992

A. Tikhonravov

Research Computer Center, Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: tikh@srcc.msu.ru
Ресей, Moscow, 119992

A. Yagola

Faculty of Physics, Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: yagola@physics.msu.ru
Ресей, Moscow, 119992

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019