Electrothermal analysis of GaN power submicron field-effect heterotransistors


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Physical processes and self-heating factors of in a power submicron field-effect heterotransistor have been considered. Mathematical models were proposed and the electrothermal analysis of heterotransistor parameters and characteristics was performed. The impact of thermal processes on parameters of the circuit model and the output frequency characteristics of submicron heterotransistor was shown on the basis of analysis of temperature fields. The relationship of the transistor thermal resistance as a function of its geometry and thermophysical parameters has been established.

Об авторах

V. Timofeyev

National Technical University of Ukraine “Kyiv Polytechnic Institute”

Email: semprih@gmail.com
Украина, Kyiv

E. Semenovskaya

National Technical University of Ukraine “Kyiv Polytechnic Institute”

Автор, ответственный за переписку.
Email: semprih@gmail.com
Украина, Kyiv

O. Falieieva

National Technical University of Ukraine “Kyiv Polytechnic Institute”

Email: semprih@gmail.com
Украина, Kyiv


© Allerton Press, Inc., 2016

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах