Electrothermal analysis of GaN power submicron field-effect heterotransistors


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Physical processes and self-heating factors of in a power submicron field-effect heterotransistor have been considered. Mathematical models were proposed and the electrothermal analysis of heterotransistor parameters and characteristics was performed. The impact of thermal processes on parameters of the circuit model and the output frequency characteristics of submicron heterotransistor was shown on the basis of analysis of temperature fields. The relationship of the transistor thermal resistance as a function of its geometry and thermophysical parameters has been established.

Авторлар туралы

V. Timofeyev

National Technical University of Ukraine “Kyiv Polytechnic Institute”

Email: semprih@gmail.com
Украина, Kyiv

E. Semenovskaya

National Technical University of Ukraine “Kyiv Polytechnic Institute”

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: semprih@gmail.com
Украина, Kyiv

O. Falieieva

National Technical University of Ukraine “Kyiv Polytechnic Institute”

Email: semprih@gmail.com
Украина, Kyiv


© Allerton Press, Inc., 2016

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>