🔧На сайте запланированы технические работы
25.12.2025 в промежутке с 18:00 до 21:00 по Московскому времени (GMT+3) на сайте будут проводиться плановые технические работы. Возможны перебои с доступом к сайту. Приносим извинения за временные неудобства. Благодарим за понимание!
🔧Site maintenance is scheduled.
Scheduled maintenance will be performed on the site from 6:00 PM to 9:00 PM Moscow time (GMT+3) on December 25, 2025. Site access may be interrupted. We apologize for the inconvenience. Thank you for your understanding!

 

Contactless Measurement of the Surface Temperature of Objects from Their Infrared Radiation


如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

A contactless method is presented for measuring the surface temperature of radioelectronics objects from their own infrared radiation. Metrological analysis of the contactless method was executed using the small perturbations method.

作者简介

V. Bityukov

Moscow Technological University (MIREA)

编辑信件的主要联系方式.
Email: bitukov@mirea.ru
俄罗斯联邦, Moscow

D. Simachkov

Moscow Technological University (MIREA)

Email: bitukov@mirea.ru
俄罗斯联邦, Moscow

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML

版权所有 © Springer Science+Business Media, LLC, part of Springer Nature, 2018